Експериментальне обладнання

1. Електронний спектрометр для аналізу поверхні
   
2. Мас-спектрометричний автоматизований комплекс для газового аналізу у відкритих і закритих об'ємах (МСК)
   
3. Надвисоковакуумна установка для аналізу твердих речовин методом вторинної іонної мас-спектрометрії
   
4. Надвисоковакуумна комбінована установка для дослідження поверхні
   
5. Мас-спектрометр МС-7202М
6. Надвисоковакуумна установка Varian 240 LEED/Auger

Патенти

1. Cherepin V.T., Olchovsky V.L. Ion-emission microanalyzer microscope. Патент 4107527 США, МКИ H 01 J 37 /26.- 1978.- August 15.
2. Cherepin V.T., Olchovsky V.L. Ionenemissionsmicroscop-Microanalisator. Патент 2733966 ФРГ, МКИ G 01 № 23/225. -1979.- Februar 1.
3. Cherepin V.T., Olchovsky V.L. Ion-emission microanalyzer microscope apparatus. Патент 1552069 Великобританія, МКИ H 01 J 37 /26.- 1979.- September 5.
4. Cherepin V.T., Olchovsky V.L. Microscope micro-analyzeur a emission d’ions. Патент 2400255 Франція, МКИ Н 01 J 37 / 26 //Listes.- 1980.- No 8.
5. Cherepin V.T., Olchovsky V.L. Ion-emission microanalyzer microscope. Патент 1187308 Японія, МКИ H 01 J 37 /26.- 1984.- January 20.
6. Васильєв М.О., Немошкаленко В.В., Нікітін Б.Г., Огенко В.М., Філіппов О.С. Вібродатчик. Патент 2795 Україна, МКІ G 11 H 11/02 //Промислова власність.- 1994.- № 5-1.
7. Васильєв М.О., Немошкаленко В.В., Нікітін Б.Г., Філіппов О.С. Вібродатчик. Патент 19544А Україна, МКІ G 11 H 11/02 //Промислова власність.- 1997.- № 6.
8. Косячков А.А, Черепін В.Т. Спосіб аналізу поверхні твердого тіла. Патент 18038А Україна, МКІ G 01 N 23/22 //Промислова власність.- 1997.- № 5.
9. Черепін В.Т. Мас-спектрометр. Патент Україна, 15.12.2000, Бюл. № 7-11.
10. Васильєв М.О., Сидоренко С.І., Філіппов О.С. Спосіб визначення температури Кюрі поверхні феромагнітних матеріалів. Патент 31050А Україна, МКІ G 01R 33/22. Бюл. № 7-11.
11. Патент на корисну модель № 61233, 2003.
12. Патент на корисну модель № 9175, 2005.
13. Патент на корисну модель № 22379, 2007.
14. Патент на корисну модель № 74892, 12.11.2012.

Авторські свідоцтва

1. Васильев М.А., Черепин В.Т., Черныш В.С., Шелякин Л.Б., Юрасова В.Е. Способ определения температуры Кюри ферромагнитных образцов. А.с. 721787 СССР, МКИ G 01 R 33/12. Бюллетень.- 1980.- № 10.
2. Черепин В.Т., Ольховский В.Л., Ионно-эмиссионный микроскоп-микроанализатор. А.с. 957317 СССР, МКИ H 01 J 39/40; G 02 B 21/06; B 01 D 59/44; G 01 N 27/62 //Открытия. Изобретения. - 1980.- № 1.
3. Дубинский И.Н., Украинский И.И., Черепин В.Т. Квадрупольный масс-спектрометр. А.с. 817800 СССР, МКИ H 01 J 49/ 42, G 01 N 27/ 62, B 01 D 59/44 // Открытия. Изобретения.- 1981.- № 12.
4. Черепин В.Т., Дубинский И.Н., Украинский И.И. Монопольный масс-анализатор. А.с. 817801 СССР, МКИ H 01 J 49/42; G 01 N 27/62; B 01 D 59/44 //Открытия. Изобретения. - 1981.- № 12.
5. Черепин В.Т., Скляров О.Е., Новоставский Я.Н., Иващенко Ю.Н. Устройство для разрушения образцов в вакууме. А.с. 842452 СССР, МКИ G 01 N 1/00 //Открытия. Изобретения. - 1981.- № 24.
6. Косячков А.А, Черепин В.Т. Позиционер образца. А.с. 1661867 СССР, МКИ H 01 J 37/20 // Открытия. Изобретения. - 1982.- № 33.
7. Черепин В.Т., Чемерисов Б.И., Левинзон С.В., Тимченко Н.М. Стабилизированный источник постоянного напряжения. А.с. 957185 СССР, МКИ G 05 F 1/46; H 02 M 7/217 //Открытия. Изобретения. - 1982.- № 33.
8. Черепин В.Т., Левинзон С.В., Тимченко Н.М., Чемерисов Б.И. Способ преобразования и стабилизации переменного напряжения и устройство для его осуществления. А.с. 964904 СССР, МКИ H 02 М 3/335; Н 02 Р 13/16 //Открытия. Изобретения. - 1982.- № 37.
9. Черепин В.Т., Арсланбеков В.А., Яцук И.Н., Галич И.И. Сверхвысоковакуумный клапан. А.с. 1079812 СССР, МКИ F 16 K 3/02 //Открытия. Изобретения. - 1984.- № 10.
10. Васильев М.А., Дубинский И.Н., Косячков А.А., Макеева И.Н., Ченакин С.П., Черепин В.Т., Костюченко В.Г. Способ масс-спектрометрического послойного анализа твердых веществ. А.с. 1138855 СССР, МКИ H 01 J 49/26 //Открытия. Изобретения.- 1985.- № 5.
11. Васильев М.А., Емельянинков Д.Г., Коляда В.М., Черепин В.Т. Способ количественного послойного анализа твердых веществ. А.с. 1224855 СССР, МКИ H 01 J 49/26, G 01 N 27/69 //Открытия. Изобретения.- 1986.- № 14.
12. Васильев М.А., Коляда В.М., Нагорная Т.В., Черепин В.Т. Способ определения коэффициентов вторичной ионной эмиссии компонентов образца. А.с. 1211645 СССР, МКИ G 01 N 49/26 //Открытия. Изобретения.- 1986.- № 6.
13. Васильев М.А., Коляда В.М., Черепин В.Т., Швецов А.П. Способ масс-спектрометрического анализа твердых веществ. А.с. 1226554 СССР, МКИ H 01 J 49/26, G 01 N 27/62 //Открытия. Изобретения.- 1986.- № 15.
14. Черепин В.Т., Косячков А.А., Исьянов В.Э., Яцук И.Н. Устройство для исследования поверхности твердого тела. А.с. 1324079 СССР, МКИ H 01 J 37/20 //Открытия. Изобретения. - 1987.- № 26.
15. Косячков А.А., Трилецкий В.С., Черепин В.Т. Способ анализа атомной структуры поверхности. А.с. 1582098 СССР, МКИ G 01 N 23/203 // Открытия. Изобретения. - 1990.- № 28.
16. Косячков А.А., Трилецкий В.С., Черепин В.Т. Способ анализа поверхности твердого тела. А.с. 1548726 СССР, МКИ G 01 N 23/203 // Открытия. Изобретения. - 1990.- № 9.
17. Пивоваров А.Л., Ченакин С.П., Черепин В.Т. Способ количественного анализа примеси в твердом теле. А.с. 1781728 СССР, МКИ H 01 J 49/26; G 01 N 23/225 // Открытия. Изобретения. - 1992.- № 46.
18. Черепин В.Т. Способ масс-спектрометрического анализа ионов. А.с. 1720108 СССР, МКИ H 01 J 49/30 // Открытия. Изобретения. - 1992.- № 10.
19. Черепин В.Т., Черный В.И., Шуляренко А.П., Войцеховский В.В. Устройство для ориентирования перемещения изделий. А.с. 1707802 СССР, МКИ H 05 K 13/02 // Открытия. Изобретения. - 1992.- № 3.
20. Васильев М.А., Немошкаленко В.В., Никитин Б.Г., Филиппов А.С. Вибродатчик. А.с. 1769002 СССР, МКИ G 11 H 11/02 // Изобретения. - 1992.- № 38.
21. Черепин В.Т. Масс-спектрометр. А.с. 1839274 СССР, МКИ H 01 J 49/30 // Открытия. Изобретения. - 1993.- № 48.