 |
|||||||||
 |
2020, том 18, выпуск 2 |
|
|||||||
|
|||||||||
Выпуски/2020/том 18 /выпуск 2 |
S. V. Dmitriiev, V. B. Molodkin, M. H. Tolmachov, S. Y. Olikhovskyi, V. V. Lizunov
«The Influence of Defects of Second Type by Krivoglaz to Coherent Component of X-Rays Scattering in Monocrystalline Materials of Nanoindustry»
253–264 (2020)
PACS numbers: 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.46.Hk, 61.72.Dd, 61.72.Lk, 81.07.Bc
Роботу присвячено дослідженню впливу дефектів монокристалів на когерентну компоненту диференційної відбивної здатности при косонесиметричній дифракції Рентґенових променів у геометрії дифракції за Бреґґом. Показано можливість значного поліпшення діягностичних можливостей фазоваріяційної динамічної дифрактометрії, яке зумовлюється впливом (особливо ефективним за асиметричної дифракції) умов експерименту на прояв дефектів великих розмірів у картині розсіяння. Продемонстровано можливість розділення внесків різного типу дефектів у дифраґовану інтенсивність шляхом вибору оптимальних умов експерименту.
Keywords: dynamical diffraction, asymmetric diffraction, coherent scattering, x-ray diffractometric diagnostics
References
1. M. A. Krivoglaz, X-Ray and Neutron Diffraction in Nonideal Crystals (Berlin:
Springer: 1996).
2. L.I. Datsenko, V. B. Molodkin, and M. E. Osinovskiy, Dinamicheskoye Rasseyanie Rentgenovskikh Luchey Real’nymi Kristallami [Dynamical X-Ray Scattering by Nonideal Crystals] (Kyiv: Naukova Dumka: 1988) (in Russian).
3. V. V. Lizunov, V. B. Molodkin, S. V. Lizunova, N. G. Tolmachev, E. S. Skakunova, S. V. Dmitriev, B. V. Sheludchenko, S. M. Brovchuk, L. N. Skapa, R. V. Lekhnyak, and E. V. Fuzik, Metallofiz. Noveishie Tekhnol., 36, No. 7: 857 (2014) (in Russian); https://doi.org/10.15407/mfint.36.07.0857.
4. L. N. Skapa, V. V. Lizunov, V. B. Molodkin, E. G. Len’, B. V. Sheludchenko, S. V. Lizunova, E. S. Skakunova, N. G. Tolmachev, S. V. Dmitriev, R. V. Lekhnyak, G. O. Velikhovskiy, V. V. Molodkin, I. N. Zabolotnyy, E. V. Fuzik, and O. P. Vas’kevich, Metallofiz. Noveishie Tekhnol., 37, No. 11: 1567 (2015) (in Russian); https://doi.org/10.15407/mfint.37.11.1567.
5. V. B. Molodkin, A. I. Nizkova, A. P. Shpak, V. F. Machulin, V. P. Klad’ko, I. V. Prokopenko, R. N. Kyutt, E. N. Kislovskiy, S. I. Olikhovskiy, E. V. Pervak, I. M. Fodchuk, A. A. Dyshekov, and Yu. P. Khapachev, Difraktometriya Nanorazmernykh Defektov i Geterosloyov Kristallov [Diffractometry of Nanosize Defects and Crystal Heterolayers] (Kyiv: Akademperiodyka: 2005) (in Russian).
6. Z. G. Pinsker, Rentgenovskaya Kristallooptika [X-Ray Crystal Optics] (Moscow: Nauka: 1982) (in Russian).
7. V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskii, E. N. Kislovskii, E. G. Len’, and E. V. Pervak, phys. status solidi (b), 227: 429 (2001); https://doi.org/10.1002/1521-3951(200110)227:2<429::AIDPSSB429>3.0.CO;2-C.
8. S. I. Olikhovskii, V. B. Molodkin, E. N. Kislovskii, E. G. Len’, and E. V. Pervak, phys. status solidi (b), 231: 199 (2002); https://doi.org/10.1002/1521-3951(200205)231:1<199::AIDPSSB199>3.0.CO;2-Yb.
 Усі статті ліцензовано на умовах Ліцензії Creative Commons із зазначенням авторства — без похідних 4.0 Міжнародна ©2003—2021 НАНОСИСТЕМЫ, НАНОМАТЕРИАЛЫ, НАНОТЕХНОЛОГИИ Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова Национальной Академии наук Украины. Електрона пошта: tatar@imp.kiev.ua Телефони та адреса редакції Про збірник Угода користувача |