Скачать полную версию статьи (в PDF формате)
S. V. Dmitriiev, V. B. Molodkin, M. H. Tolmachov, S. Y. Olikhovskyi, V. V. Lizunov
«The Influence of Defects of Second Type by Krivoglaz to Coherent Component of X-Rays Scattering in Monocrystalline Materials of Nanoindustry»
253–264 (2020)
PACS numbers: 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.46.Hk, 61.72.Dd, 61.72.Lk, 81.07.Bc
Работа посвящена исследованию влияния дефектов монокристаллов на когерентную компоненту дифференциальной отражательной способности при косонесимметричной дифракции рентгеновских лучей в геометрии дифракции по Брэггу. Показана возможность значительного улучшения диагностических возможностей фазовариационной динамической дифрактометрии, обусловливаемого влиянием (особенно эффективным при асимметричной дифракции) условий эксперимента на проявление дефектов больших размеров в картине рассеяния. Продемонстрирована возможность разделения вкладов различного типа дефектов в дифрагированную интенсивность выбором оптимальных условий эксперимента.
Keywords: dynamical diffraction, asymmetric diffraction, coherent scattering, x-ray diffractometric diagnostics
References
1. M. A. Krivoglaz, X-Ray and Neutron Diffraction in Nonideal Crystals (Berlin:
Springer: 1996).
2. L.I. Datsenko, V. B. Molodkin, and M. E. Osinovskiy, Dinamicheskoye Rasseyanie
Rentgenovskikh Luchey Real’nymi Kristallami [Dynamical X-Ray Scattering
by Nonideal Crystals] (Kyiv: Naukova Dumka: 1988) (in Russian).
3. V. V. Lizunov, V. B. Molodkin, S. V. Lizunova, N. G. Tolmachev,
E. S. Skakunova, S. V. Dmitriev, B. V. Sheludchenko, S. M. Brovchuk,
L. N. Skapa, R. V. Lekhnyak, and E. V. Fuzik, Metallofiz. Noveishie
Tekhnol., 36, No. 7: 857 (2014) (in Russian); https://doi.org/10.15407/mfint.36.07.0857.
4. L. N. Skapa, V. V. Lizunov, V. B. Molodkin, E. G. Len’, B. V. Sheludchenko,
S. V. Lizunova, E. S. Skakunova, N. G. Tolmachev, S. V. Dmitriev,
R. V. Lekhnyak, G. O. Velikhovskiy, V. V. Molodkin, I. N. Zabolotnyy,
E. V. Fuzik, and O. P. Vas’kevich, Metallofiz. Noveishie Tekhnol., 37, No.
11: 1567 (2015) (in Russian); https://doi.org/10.15407/mfint.37.11.1567.
5. V. B. Molodkin, A. I. Nizkova, A. P. Shpak, V. F. Machulin, V. P. Klad’ko,
I. V. Prokopenko, R. N. Kyutt, E. N. Kislovskiy, S. I. Olikhovskiy,
E. V. Pervak, I. M. Fodchuk, A. A. Dyshekov, and Yu. P. Khapachev,
Difraktometriya Nanorazmernykh Defektov i Geterosloyov Kristallov
[Diffractometry of Nanosize Defects and Crystal Heterolayers] (Kyiv:
Akademperiodyka: 2005) (in Russian).
6. Z. G. Pinsker, Rentgenovskaya Kristallooptika [X-Ray Crystal Optics] (Moscow:
Nauka: 1982) (in Russian).
7. V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskii, E. N. Kislovskii, E. G. Len’, and
E. V. Pervak, phys. status solidi (b), 227: 429 (2001);
https://doi.org/10.1002/1521-3951(200110)227:2<429::AIDPSSB429>3.0.CO;2-C.
8. S. I. Olikhovskii, V. B. Molodkin, E. N. Kislovskii, E. G. Len’, and
E. V. Pervak, phys. status solidi (b), 231: 199 (2002);
https://doi.org/10.1002/1521-3951(200205)231:1<199::AIDPSSB199>3.0.CO;2-Yb.
|