 |
|||||||||
 |
2020, том 18, выпуск 1 |
|
|||||||
|
|||||||||
Выпуски/2020/том 18 /выпуск 1 |
O. M. Bordun, I. O. Bordun, I. M. Kofliuk, I. Yo. Kukharskyy, I. I. Medvid, Zh. Ya. Tsapovska, D. S. Leonov
«Morphology of Thin Films Y\(_2\)O\(_3\):Eu Obtained by Different Methods»
0053–0058 (2020)
PACS numbers: 61.72.Ff, 61.72.Mm, 68.35.Ct, 68.37.Ps, 68.55.J-, 81.15.Cd, 81.15.Gh
Методою високочастотного (ВЧ) йонно-плазмового розпорошення в атмосфері арґону та дискретного випаровування у вакуумі одержано тонкі плівки Y\(_2\)O\(_3\):Eu. Дослідження морфологій поверхні тонких плівок методою атомно-силової мікроскопії (АСМ) показало, що при переході від ВЧ-розпорошення до дискретного випаровування зростає середня квадратична шерсткість поверхні за близьких величин діяметрів нанокристалічних зерен на поверхні плівок. Встановлено, що розподіл зерен за діяметром при ВЧ-розпорошенні відповідає нормальному логаритмічному розподілу з одним центром розподілу, а при дискретному випаровуванні — з двома центрами розподілу. Співвідношення центрів розподілу вказує на зрощування зерен між собою.
Keywords: yttrium oxide, thin films, nanocrystallite
References
1. K. M. Nissamudeen and K. G. Gopchandran, J. Alloys and Compounds, 490:
399 (2010).2. P. Packiyaraj and P. Thangadurai, J. Luminescence, 145: 997 (2014).
3. H. Huang, G. A. Xu, W. S. Chin, and L. M. Gan, Nanotechnology, 13, No. 3: 318 (2002).
4. C. Shanga, X. Shang, Y. Qu, and M. Li, Chem. Phys. Lett., 501, Nos. 4–6: 480 (2011).
5. O. M. Bordun, I. O. Bordun, I. Yo. Kukharskyy, Zh. Ya. Tsapovska, and M. V. Partyka, J. Appl. Spectrosc., 84, No. 6: 1072 (2018).
6. H. M. Abdelaal, A. Tawfik, and A. Shaikjee, Mater. Chem. Phys., 242: 122530 (2020).
7. Hai Guo and Yan Min Qia, Opt. Materials, 31, No. 3: 583 (2009).
8. O. M. Bordun and I. M. Bordun, Optika i Spektroskopiya, 88, No. 5: 775 (1997).
9. L. Wen, X. Sun, Q. Lu, and G. Xu, Opt. Mater., 29: 239 (2006).
10. O. M. Bordun, I. O. Bordun, and I. Yo. Kukharskyy, J. Appl. Spectrosc., 82, No. 3: 390 (2015).
11. J. E. Palmer, C. V. Thompson, and H. I. Smith, J. Appl. Phys., 62, No. 6: 2492 (1987).
 Усі статті ліцензовано на умовах Ліцензії Creative Commons із зазначенням авторства — без похідних 4.0 Міжнародна ©2003—2021 НАНОСИСТЕМЫ, НАНОМАТЕРИАЛЫ, НАНОТЕХНОЛОГИИ Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова Национальной Академии наук Украины. Електрона пошта: tatar@imp.kiev.ua Телефони та адреса редакції Про збірник Угода користувача |