|
||||||||||||||||||||||||
Download the contents of the issue ( in PDF format )А. Г. Ильинский, В. Л. Карбовский, А. П. Шпак, Ю. В. Лепеева О. Б. Мельник, Ю. А. Куницький*, А. Б. Шевченко, М. Ю. Барабаш* Є. І. Боркач, В. П. Іваницький*, М. М. Рябощук* С. М. Гасинець, О. В. Горіна, О. В. Козусенок*, М. Ю. Риган, В. М. Рубіш, К. О. Попович*, Г. М. Шпирко, Д. А. Би-шук** Кравец, А. Б. Лысенко, Т. В. Калинина А. Е. Бармин, А. И. Ильинский, А. И. Зубков Є. Л. Жавжаров Taking into account metal interdiffusion, we analyse theoreti-cally the oscillation galvanomagnetic effect in multilayered films at arbitrary ratios between the layer thicknesses and the electron mean-free path. As shown, the changes in electronic conduction characteristics of multilayers upon diffusion annealing open the way to investigate the process of bulk diffusion in metals. Ю. А. Шкурдода, Л. В. Дехтярук*, А. Н. Чорноус** В. Н. Онищук, Ю. А. Первак С. П. Репецький, І. Г. Вишивана, В. В. Шастун, Д. К. Чешківський Т. М. Радченко, В. А. Татаренко Б. І. Рачій, Л. Ю. Куницька*, В. В. Трачевський**, О. Д. Магомета, Ю. А. Куницький**, А. К. Мельник***, Ю. Ф. Бозбєй*, М. В. Бер-кещук****
G. V. Lashkarev, P. V. Demydiuk, G. Yu. Yurkov*, O. I. Dmitriev, O. I. Bykov, L. I. Klochkov, Yu. P. Pyratinskiy**, E. I. Slynko, A. G. Khandozhko***, O. V. Popkov*, N. A. Taratanov*, I. M. Frantsevych, *A. A. Baikov, ***Y. Fedkovych Е. А. Лисенков, Ю. П. Гомза, В. В. Клепко, Ю. А. Куницький*, Л. Ю. Куницька** Е. А. Лисенков, Ю.П. Гомза, В. В. Давиденко, В. В. Клеп-ко, М. А. Рехтета*, Ю. А. Куницький**, І. М. Шабельник**
G. D. Nipan, O. A. Mykaylo*,**, and Young-Jei Oh** М. А. Заболотный, Ю. М. Барабаш*, О. П. Дмитренко, Н. П. Кулиш, Э. Л. Мартинчук**, А. И. Костина, Ю. Ю. Сидельни-кова А. П. Шпак, Ю. С. Дзязько*, Е. Р. Мокроусова**, Ю. М. Вольфкович***, Н. Ф. Никольская***, Ю. А. Куницкий****, В. Н. Беляков* М. В. Маніло, В. В. Лізунов*, І. А. Ар’єв** |
||||||||||||||||||||||||
|