Завантажити повну версію статті (в PDF форматі)
V. V. Kidalov, V. P. Kladko, A. F. Dyadenchuk, O. I. Gudymenko, V. A. Baturin, A. Yu. Karpenko, and V. V. Kidalov
ZnO/SiC/Porous-Si/Si Heterostructure: Obtaining and Properties
0647–0655 (2022)
PACS numbers: 61.05.cp, 61.43.Gt, 68.37.-d, 68.65.-k, 77.55.hf, 78.67.Rb, 81.05.Rm
У роботі продемонстровано синтезу плівок оксиду Цинку ZnO методом ВЧ-магнетронного розпорошення цинкової мішені на кремнійовій підкладинці з використанням буферних шарів SiC та поруватого Si. Синтеза складалася з трьох етапів: одержання мезопоруватої поверхні Si(111) електрохемічним щавленням, нанесення плівок SiC на поруваті кремнійові підкладинки методом заміщення та синтези плівок ZnO за допомогою високочастотного магнетронного напорошення. Товщина плівки оксиду Цинку становила ≅ 1 мкм. Мікроскопічний розріз плівки ZnO демонструє її стовпчасту мікроструктуру. Плівки мають форму щільно пакованих (аґломерованих) нанозерен (розміром у 100–150 нм). За результатами рентґенофазових мірянь плівки ZnO орієнтовані уздовж основного напрямку текстури [0001]. Вивчення властивостей поверхні утвореної структури свідчить про полікристалічний характер покриття з гексагональною ґратницею типу вюрциту. Довжина области когерентности, визначена за Шерреровою формулою, становить 11,8 нм.
Keywords: високочастотне магнетронне розпорошення, плівка ZnO, буферний шар, плівка SiC, мезопористий Si.
References
- A. Janotti and C. G. Van de Walle, Rep. Prog. Phys., 72, No. 12: 126501 (2009); https://doi.org/10.1088/0034-4885/72/12/126501
- A. B. Djurisic, A. M. C. Ng, and X. Y. Chen, Prog. Quantum Electron., 34, No. 4: 191 (2010); https://doi.org/10.1016/j.pquantelec.2010.04.001
- L. Ci-Hui, C. Yu-Lin, L. Bi-Xia, Z. Jun-Jie, F. Zhu-Xi, P. Cong, and Y. Zhen, Chinese Phys. Lett., 18, No. 8: 1108 (2001); https://doi.org/10.1088/0256-307X/18/8/338
- D. Das and L. Karmakar, J. Alloys Compd., 824: 153902 (2020); https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2020.153902
- L. Chabane, N. Zebbar, M. Trari, Y. H. Seba, and M. Kechouane, Mater. Sci. Semicond. Process., 13: 105971 (2021); https://doi.org/10.1016/j.mssp.2021.105971
- C. Xiong, L. Chen, W. Du, J. Ma, J. Xiao, and X. Zhu, Int. J. Mod. Phys. B, 31, Nos. 16–19: 1744076 (2017); https://doi.org/10.1142/S0217979217440763
- M. Kolhep, C. Sun, J. Blasing, B. Christian, and M. Zacharias, J. Vac. Sci. Technol. A, 39, No. 3: 032401 (2021); https://doi.org/10.1116/6.0000793
- S. A. Kukushkin, V. I. Nikolaev, A. V. Osipov, E. V. Osipova, A. I. Pechnikov, and N. A. Feoktistov, Phys. Solid State, 58, No. 9: 1876 (2016); https://doi.org/10.1134/S1063783416090201
- S. A. Kukushkin, A. V. Osipov, and A. I. Romanychev, Phys. Solid State, 58, No. 7: 1448 (2016); https://doi.org/10.1134/S1063783416070246
- T. Phan and G. S. Chung, Trans. Electr. Electron. Mater., 12, No. 3: 102 (2011); https://doi.org/10.4313/TEEM.2011.12.3.102
- A. F. Dyadenchuk and V. V. Kidalov, Оtrymannya Poruvatykh Napivprovidnykiv Metodom Ehlektrokhimichnogo Travlennya [Obtaining Porous Semiconductors by Electrochemical Etching] (Berdyansk: BSPU: 2017) (in Ukrainian).
- S. A. Kukushkin and A. V. Osipov, J. Appl. Phys., 113, No. 2, 024909 (2013); https://doi.org/10.1063/1.4773343
- S. A. Kukushkin, A. V. Osipov, and N. A. Feoktistov, Phys. Solid State, 56, No. 8: 1507 (2014); https://doi.org/10.1134/S1063783414080137
- S. A. Kukushkin and A. V. Osipov, Phys. B: Condens. Matter, 512: 26 (2017); https://doi.org/10.1016/j.physb.2017.02.018
- V. V. Kidalov, S. A. Kukushkin, A. V. Osipov, A. V. Redkov, A. S. Grashchenko, I. P. Soshnikov, M. E. Boiko, M. D. Sharkov, and A. F. Dyadenchuk, Mater. Phys. Mech., 36: 39 (2018); https://doi.org/10.18720/MPM.3612018_4
- V. Kidalov, A. Dyadenchuk, Y. Bacherikov, A. Zhuk, T. Gorbaniuk, I. Rogozin, and V. Kidalov, Turk. J. Phys., 44, No. 1: 57 (2020); https://doi.org/10.3906/fiz-1909-10
- V. V. Kidalov, S. A. Kukushkin, A. V. Osipov, A. V. Redkov, A. S. Grashchenko, I. P. Soshnikov, and A. F. Dyadenchuk, ECS J. Solid State Sci. Technol., 7, No. 4: 158 (2018); https://doi.org/0.1149/2.0061804jss
- B. Abdullah and D. Tahir, J. Phys. Conf. Ser., 1317, No. 1: 012052 (2019); https://doi.org/10.1088/1742-6596/1317/1/012052
|