Випуски

 / 

2008

 / 

том 6 / 

випуск 3

 



Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

В. Б. Молодкін, С. Й. Оліховський, Б. В. Шелудченко, Є. Г. Лень, М. Т. Когут
«Анізотропний модель динамічної трикристальної Ляве-дифрактометрії структурної досконалости кристалічних виробів нанотехнологій. ІІ. Дифузна складова динамічної картини розсіяння »
0807–0827 (2008)

PACS numbers: 07.85.Jy, 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.72.Dd, 61.72.J-, 61.72.Lk

В межах узагальненої динамічної теорії розсіяння Рентґенових променів у недосконалих кристалах розглянуто динамічне дифузне розсіяння (ДР) від крупних дефектів у випадку геометрії дифракції за Ляве. Одержано аналітичні вирази для диференційної та проінтеґрованої за вертикальною розбіжністю інтенсивностей ДР у кристалі з однорідно розподіленими дефектами, які створюють навколо себе анізотропні поля зміщень атомів матриці. Для дефектів ріжних типів і розмірів побудовано карти розподілу інтенсивности ДР у просторі оберненої ґратниці й продемонстровано вплив на їх вигляд інтеґрування за вертикальною розбіжністю Рентґенових променів.

©2003—2021 наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова Національної академії наук України.
Електрона пошта: tatar@imp.kiev.ua Телефони та адреса редакції про збірник Угода користувача