2Technical Centre, N.A.S. of Ukraine, 13, Pokrovska Str., UA-04070 Kyiv, Ukraine
Influence of Cr3+ and Mn2+ Activators on the Surface Morphology Formation of ZnGa2O4 Thin Films Obtained by RF Ion-Plasma Sputtering
489–502 (2026)
Індекси PACS: 68.35.Ct, 68.37.Ps, 68.47.Gh, 68.55.J-, 81.15.Cd, 81.16.Pr, 81.65.Mq
Одержано 19 травня 2026 р.
Проведено аналізу морфології поверхні тонких плівок ґалату Цинку (ZnGa2O4), леґованих йонами Mn2+ і Cr3+, одержаних методом ВЧ-йонноплазмового розпорошення на підкладинках із топленого кварцу υ-SiO2. За допомогою атомно-силової мікроскопії (АСМ) досліджено вплив типу активатора на значення статистичних параметрів шерсткости поверхні, розміри зерен і характер їхнього розподілу. Встановлено, що невідпалені плівки ZnGa2O4:Mn мають дрібнозернисту структуру з вираженими нанопіками (коефіцієнт ексцесу — Ska = 6,4), тоді як плівки ZnGa2O4:Cr характеризуються більшими зернами та вищою середньоквадратичною шерсткістю. Показано, що термічне оброблення приводить до збільшення розмірів зерен досліджуваних зразків. Результати пояснено на основі кристалохемічних особливостей заміщення йонів Zn2+ і Ga3+ йонами Mn2+ і Cr3+ у відповідних позиціях кристалічної структури шпінелі.
КЛЮЧОВІ СЛОВА: ґалат Цинку, манґановий активатор, хромовий активатор, тонкі плівки, кристаліти, морфологія поверхні, АСМ, відпал тонких плівок
ЛІТЕРАТУРА
- Yan Jin-Liang, Zhao Yin-Nü, and Li Chao, Chin. Phys. B, 23, No. 4: 048105 (2014); https://doi.org/10.1088/1674-1056/23/4/048105
- Wei-Kai Wang, Kuo-Feng Liu, Sung‐Yu Wang, Jian-Cheng Guo, and Shih-Yung Huang, Semicond. Sci. Technol., 36: 055011 (2021); https://doi.org/10.1088/1361-6641/abefa2
- Samiran Bairagi, Ching-Lien Hsiao, Roger Magnusson, Jens Birch, Jinn P. Chu, Fu-Gow Tarntair, Ray-Hua Horng, and Kenneth Järrendahl, Optical Materials Express., 12, No. 8: 3284 (2022); https://doi.org/10.1364/OME.462668
- Su-Hua Yang, Chien-Yuan Lu, and Shoou-Jinn Chang, Journal of The Electrochemical Society, 154, No. 8: J229 (2007); https://doi.org/10.1149/1.2740027
- Jia-Hang Liu, Lei Li, Fan Zhang, Ya-Ping Qi, Zhen-Ping Wu, and Wei-Hua Tang, Phys. Scr., 99: 055538 (2024); https://doi.org/10.1088/1402-4896/ad3b4f
- L.-C. Cheng, C.-Y. Huang, and R.-H. Horng, Journal of the Electron Devices Society, 6: 432 (2018); https://doi.org/10.1109/JEDS.2018.2803078
- Chengling Lu, Qingyi Zhang, Shan Li, Zuyong Yan, Zeng Liu, Peigang Li and Weihua Tang, J. Phys. D: Appl. Phys., 54: 405107 (2021); https://doi.org/10.1088/1361-6463/ac1465
- Anqi Guo, Lichun Zhang, Ning Cao, Taiping Lu, Yadan Zhu, Dan Tian, Zhiying Zhou, Shunli He, Bin Xia, and Fengzhou Zhao, Appl. Phys. Express, 16, No. 2: 021004 (2023); https://doi.org/10.35848/1882-0786/acb98c
- Ray-Hua Horng, Peng-Hsuan Huang, Yun-Sheng Li, Fu-Gow Tarntair, and Chih Shan Tan, Appl. Surf. Sci., 555: 149657 (2021); https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2021.149657
- Wanmin Lin, Dan Zhang, Sixian Liu, Yuqiang Li, Wei Zheng, and Feng Huang, Mater. Lett., 283: 128805 (2021); https://doi.org/10.1016/j.matlet.2020.128805
- Anoop Kumar Singh, Shiau-Yuan Huang, Po-Wei Chen, Jung-Lung Chiang, and Dong-Sing Wuu, Nanomaterials, 11: 2316 (2021); https://doi.org/10.3390/nano11092316
- Chia-Hsun Chen, Shu-Bai Liu, and Sheng-Po Chang, ACS Omega, 9, Iss. 13: 15304 (2024); https://doi.org/10.1021/acsomega.3c09965
- Yi-Siang Shen, Wei-Kai Wang, and Ray-Hua Horng, Journal of the Electron Devices Society, 5, Iss. 2: 112 (2017); doi:10.1109/JEDS.2017.2653419
- Kiyotaka Wasa, Makoto Kitabatake, and Hideaki Adachi, Thin Film Materials Technology: Sputtering of Compound Materials (New York: William Andrew Inc. publishing–Springer-Verlag GmbH&Co. KG: 2004).
- O. M. Bordun, I. Yo. Kukharskyy, and V. G. Bihday, J. Appl. Spectrosc., 78, No. 6: 922 (2012); https://doi.org/10.1007/s10812-012-9555-9
- Yan Liu, Tingting Zheng, Xiuyun Zhang, and Chen Chen, Scientific Reports, 13: 14430 (2023); https://doi.org/10.1038/s41598-023-41658-5
- Shigeaki Ono, John P. Brodholt, and G. David Price, Phys. Chem. Miner., 35: 381 (2008); https://doi.org/10.1007/s00269-008-0231-9
- D. Errandonea, Ravhi S. Kumar, F. J. Manjón, V. V. Ursaki, and E. V. Rusu, Phys. Rev. B, 79: 024103 (2009); https://doi.org/10.1103/PhysRevB.79.024103
- O. M. Bordun, I. I. Medvid, I. Y. Kukharskyy, M. V. Protsak, I. O. Bordun, I. M. Kofliuk, and K. L. Biliak, Molecular Crystals and Liquid Crystals, 769, Nos. 7–8: 801 (2025); https://doi.org/10.1080/15421406.2025.2504059
- Aurélie Bessière, Sylvaine Jacquart, Kaustubh Priolkar, Aurélie Lecointre, Bruno Viana, and Didier Gourier, Optics Express., 19, Iss. 11: 10132 (2011); https://doi.org/10.1364/OE.19.010131
- K. Somasundaram, K. P. Abhilash, V. Sudarsan, P. Christopher Selvin, and R. M. Kadam, Physica B, 491: 79 (2016); http://dx.doi.org/10.1016/j.physb.2016.03.022
- Pawel Pawlus, Rafal Reizer, and Wieslaw Zelasko, Materials, 16, No. 22: 7109 (2023); https://doi.org/10.3390/ma16227109
- B. Rajesh Kumar and T. Subba Rao, Digest Journal of Nanomaterials and Biostructures, 7, No. 4: 1881 (2012); https://www.researchgate.net/publication/279702126_AFM_studies_on_surface_morphology_topography_and_texture_of_nanostructured_zinc_aluminum_oxide_thin_films
- E. S. Gadelmawla, M. M. Koura, T. M. A. Maksoud, I. M. Elewa, and H. H. Soliman, Journal of Materials Processing Technology, 123, Iss. 1: 133 (2002); https://doi.org/10.1016/S0924-0136(02)00060-2
- James Egbu, Paul R. Ohodnicki, Jr., John P. Baltrus, Ahmed Talaat, Ruishu F. Wright, and Michael E. McHenry, Journal of Alloys and Compounds, 912: 165155 (2022); https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2022.165155
- B. Rajesh Kumar, B. Hymavathi, and T. Subba Rao, Materials Today: Proceedings, 4: 8638 (2017); https://doi.org/10.1016/j.matpr.2017.07.212
- M. K. Hussen and F. B. Dejene., Optik., 181: 514 (2019); https://doi.org/10.1016/j.ijleo.2018.12.121
- O. M. Bordun, I. O. Bordun, I. M. Kofliuk, I. Yo. Kukharskyy, I. I. Medvid, Zh. Ya. Tsapovska, and D. S. Leonov, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 20, Iss. 1: 91 (2022); https://doi.org/10.15407/nnn.20.01.91
- O. M. Bordun, I. I. Medvid, І. Yo. Kukharskyy, I. O. Bordun, M. V. Protsak, V. G. Bihday, I. S. Kuz, A. I. Tyslyuk, R. V. Pavlius, and D. S. Leonov, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 22, Iss. 4: 823 (2024); https://doi.org/10.15407/nnn.22.04.823
- O. M. Bordun, I. O. Bordun, I. I. Medvid, M. V. Protsak, I. Yo. Kukharskyy, V. G. Bihday, I. M. Kofliuk, I. Yu. Khomyshyn, and D. S. Leonov, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 21, Iss. 4: 709 (2023); https://doi.org/10.15407/nnn.21.04.709
- O. M. Bordun, B. O. Bordun, I. Yo. Kukharskyy, I. I. Medvid, I. I. Polovynko, Zh. Ya. Tsapovska, and D. S. Leonov, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 19, Iss. 1: 159 (2021); https://doi.org/10.15407/nnn.19.01.159
- O. M. Bordun, B. O. Bordun, I. I. Medvid, M. V. Protsak, I. Yo. Kukharskyy, K. L. Biliak, D. M. Maksymchuk, I. M. Kofliuk, and D. S. Leonov, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 22, No. 1: 1 (2024); https://doi.org/10.15407/nnn.22.01.001
- Wei-Kai Wang, Kuo-Feng Liu, Pi-Chuen Tsai, Yi-Jie Xu, and Shih-Yung Huang, Coatings, 9, Iss. 12: 859 (2019); https://doi.org/10.3390/coatings9120859
- O. M. Bordun, V. G. Bihday, І. Yo. Kukharskyy, І. І. Medvid, І. М. Kofliuk, I. Yu. Khomyshyn, Zh. Ya. Tsapovska, and D. S. Leonov, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 21, Iss. 2: 403 (2023); https://doi.org/10.15407/nnn.21.02.403
- G. Perfetti, T. Alphazana, P. van Hee, W. J. Wildeboer, and G. M. H. Meesters, European Journal of Pharmaceutical Sciences, 42, Iss. 3: 262 (2011); https://doi.org/10.1016/j.ejps.2010.12.001