Structural, Optical, and Electrical Properties of Nano-Zinc Sulphide at 250°C
105–113 (2026)
PACS numbers: 68.37.Hk, 73.61.Ga, 78.20.Ci, 78.66.Hf, 78.67.Bf, 78.67.Pt
Надійшла 6 липня 2024 р.; після доопрацювання 17 вересня 2024 р.
Тонкі плівки сульфіду Цинку (ZnS) з нанозернами було одержано на скляних підкладинках за 250°C за допомогою методу осадження розпорошувальною піролізою. Плівки мали полікристалічну кубічну структуру з переважною орієнтацією вздовж напрямку росту (111). Оптичні характеристики тонкої плівки ZnS вказували на ширину прямої оптичної забороненої енергетичної зони у 3,320 еВ. Плівка мала товщину у 250,25 нм із розмірами зерен від 9,76 нм до 11,46 нм. Для одержання приблизних значень міряння виконувалися за допомогою засобу комп'ютерного моделювання «Hebal Optic». Також було відзначено, що для всіх плівок є обернено пропорційна зміна опору з температурою та що утворені плівки мають дві енергії активації.
КЛЮЧОВІ СЛОВА: програмні засоби «Hebal Optic», нано-ZnS, тіосечовина, заборонена енергетична зона, метод розпорошувальної піролізи
ЛІТЕРАТУРА
- N. Imam and M. B. Mohamed, Superlattices and Microstructures, 73: 203 (2014); https://doi.org/10.1016/j.spmi.2014.05.026
- W. K. Bae, J. Kwak, J. W. Park, K. Char, C. Lee, and S. Lee, Advanced Materials, 21, No. 17: 1690 (2009); https://doi.org/10.1002/adma.200801908
- Hanaa I. Mohammed, Iman H. Khdayer, and Iqbal S. Naji, AIP Conference Proceedings, 2372, No. 1: 090005 (2021); https://doi.org/10.1063/5.0068737
- Jiaguo Huang and Kanyi Pu, Chem. Int. Ed. Engl., 59: 11717 (2020); https://doi.org/10.1002/anie.202001
- W. Daranfed, M. S. Aida, A. Hafdallah, and H. Lekiket, Thin Solid Films, 518, Iss. 4: 10821084 (2009); https://doi.org/10.1016/j.tsf.2009.03.227
- J. Ady, S. F. Umroati, S. Meliana, S. D. A. Ariska, and D. I. Rudyardjo, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 19, Iss. 3: 585 (2021); https://doi.org/10.15407/nnn.19.03.585
- A. Ateş, M. Kundakçı, A. Astam, and M. Yıldırım, Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures, 40, Iss. 8: 2709 (2008); https://doi.org/10.1016/j.physe.2007.12.010
- S. Ilican, Y. Caglar, M. Caglar, and F. Yakuphanoglu, Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures, 35, Iss. 1: 131 (2006); https://doi.org/10.1016/j.physe.2006.07.009
- Z. Zhao, M. Liu, K. Yang, C. Xu, Y. Guan, X. Ma, and F. Zhang, Advanced Functional Materials, 31, Iss. 43: 2106009 (2021); https://doi.org/10.1002/adfm.202106009
- N. P. Huse, A. S. Dive, K. P. Guttu, and R. Sharma, Mater. Sci. Semicond. Proc., 67: 62 (2017); https://doi.org/10.1016/j.mssp.2017.05.010
- K. Priya, V. K. Ashith, G. K. Roa, and G. Sanjeev, Ceramics. International, 43: 10487 (2017); https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2017.05.094
- M. C. Lopez, J. P. Espinos, F. Martin, D. Leinen, and J. R. Ramos-Barrado, Journal of Crystal Growth, 285, Iss. 1-2: 66 (2005); https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2005.07.050
- S. Mondal, S. Bhattacharyya and P. Mitra, Pramana, 80, Iss. 2: 315 (2013); https://doi.org/10.1007/s12043-012-0463-6
- C. F. Niedik, C. Freye, F. Jenau, D. Haring, G. Schroder, and J. Bittmann, 2016 IEEE International Conference on Dielectrics (ICD), 2: 1114 (2016); https://doi.org/10.1109/ICD.2016.7547814
- X. Huang, N. Hu, L. Zhang, L. Wei, H. Wei, and Y. Zhang, Synthetic Metals, 185: 25 (2013); https://doi.org/10.1016/j.synthmet.2013.09.034
- H. Wu, J. Yu, G. Yao, Z. Li, W. Zou, X. Li, and Z. Tang, Sensors and Actuators. B: Chemical, 369: 132195 (2022); https://doi.org/10.1016/j.snb.2015.01.070