2College of Materials Engineering, Ceramic and Building Materials Department, University of Babylon, Hillah, Iraq
3College of Engineering, Department of Prosthetics and Orthotics Engineering, Al-Nahrain University, Jadriya, Baghdad, Iraq
4Faculty of Engineering and Built Environment, Department of Civil Engineering, Universiti Kebangsaan Malaysia, 43600 UKM Bangi, Selangor, Malaysia
5Imam Ja'afar Al-Sadiq University, Qahira, Baghdad, Iraq
High Optical Transmittance of TiO2 Thin Films Prepared by Sol–Gel Coating Technique
719–732 (2025)
PACS numbers: 78.20.Ci, 78.20.Jq, 78.40.Ha, 78.66.Li, 78.67.Bf, 81.20.Fw, 81.40.Tv
Надійшла 8 березня 2024 р.
У цій роботі було одержано тонкі плівки діоксиду титану за золь–ґель-технологією. Досліджено вплив зміни температури відпалу на деякі оптичні властивості (n, k, d). Тонкі плівки визначали за допомогою методу еліпсометрії, враховуючи вплив температур відпалу у 360°C, 460°C, 550°C і 700°C. За допомогою спектрофотометра (UV–Vis) було визначено оптичні властивості; було виявлено, що найкращі значення оптичного пропускання було одержано для плівки, відпаленої за 500°C (спектрофотометрична крива показує найбільше пропускання видимого діяпазону, що досягається між 80% і 90% на довжинах хвиль у діяпазоні від 400 нм до 600 нм відповідно). А найкращі значення коефіцієнта відбивання та показника заломлення спостерігаються за T ≈ 460°C і T ≈ 500°C, оскільки плівки показали низькі значення коефіцієнта відбивання у видимому діяпазоні 400–700 нм. Слід зазначити, що плівка, відпалена за температури у 500°C, є найліпшою. Всі плівки мають широку заборонену зону у 3,2 еВ, одержану для усіх підготовлених зразків, особливо за T ≈ 500°C.
КЛЮЧОВІ СЛОВА: золь–ґель-оброблення, тонкі плівки, оптичне пропускання
ЛІТЕРАТУРА
- M. Pelaez, N. T. Nolan, S. C. Pillai, M. K. Seery, P. Falaras, A. G. Kontos, P. S. Dunlop, J. W. Hamilton, J. A. Byrne, K. O'shea, and M. H. Entezari, Appl. Catal. B: Environ., 125, No. 1: 331 (2012); https://doi.org/10.1016/j.apcatb.2012.05.036
- B. Al-Zubaidy, N. S. Radhi, and Z. S. Al-Khafaji, Int. J. Mech. Eng. Technol., 10, No. 1: 776 (2019).
- S. Sattar, Y. Alaiwi, N. S. Radhi, and Z. Al-Khafaji, Acad. J. Manuf. Eng., 21, No. 4: 86 (2023).
- Sabaa Sattar, Yaser Alaiwi, Nabaa Sattar Radhi, Zainab Al-Khafaji, Osamah Al-Hashimi, Hassan Alzahrani, and Zaher Mundher Yaseen, J. King Saud Univ. Sci., 35, No. 8: 102861 (2023); https://doi.org/10.1016/j.jksus.2023.102861
- Mauricio E. Calvo, José R. Castro Smirnov, and Hernán Míguez, J. Polym. Sci. Part B: Polym. Phys., 50, Iss. 14: 945 (2012); https://doi.org/10.1002/polb.23087
- Nabaa S. Radhi, Ahlam Hamid Jasim, Zainab S. Al-Khafaji, and Mayadah Falah, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 21, Iss. 4: 769 (2023); https://doi.org/10.15407/nnn.21.04.769
- S. Ghosh and A. P. Das, Toxicol. Environ. Chem., 97, No. 5: 491 (2015); https://doi.org/10.1080/02772248.2015.1052204
- Natarajan Shanmugam, Rishi Pugazhendhi, Rajvikram Madurai Elavarasan, Pitchandi Kasiviswanathan, and Narottam Das, Energies, 13, Iss. 10: 2631 (2020); https://doi.org/10.3390/en13102631
- H. A. Sallal, M. S. Radhi, M. H. Mahboba, and Z. Al-Khafaji, Egypt. J. Chem., 55, No. 6: 197 (2023); https://doi.org/10.21608/EJCHEM.2022.154630.6684
- Chen Yang, Huiqing Fan, Yingxue Xi, Jin Chen, and Zhuo Li, Appl. Surf. Sci., 254, Iss. 9: 2685 (2008); https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2007.10.006
- M. N. Chaudhari, R. B. Ahirrao, and S. D. Bagul, IJRASET, 9, No. 1: 5215 (2021).
- N. D. Fahad, N. S. Radhi, Z. S. Al-Khafaji, and A. A. Diwan, Heliyon, 9, No. 3: 14103 (2023); https://doi.org/10.1016/j.heliyon.2023.e14103
- I. Karaduman Er, S. Uysal, A. Ateş, and S. Acar, J. Mater. Sci. Mater. Electron., 34, No. 20: 1512 (2023); https://doi.org/10.1007/s10854-023-10930-9
- X. Yu, T. J. Marks, and A. Facchetti, Nat. Mater., 15, No. 4: 383 (2016); https://doi.org/10.1038/nmat4599
- Timothy J. Coutts, Thomas O. Mason, John D. Perkins, and David S. Ginley, Proc. Electrochem. Soc., 99, No. 1999: 274 (1999).
- Jianyu Fu, Wenjuan Xiong, Haiping Shang, Ruiwen Liu, Junfeng Li, Weibing Wang, Wenwu Wang, and Dapeng Chen, Mater. Sci. Semicond. Process, 89, No. 1: 1 (2019); https://doi.org/10.1016/j.mssp.2018.08.024
- S. M. Sze and K. K. Ng, Physics of Semiconductor Devices (John Wiley & Sons, Inc.: 2006); https://doi.org/10.1002/0470068329
- Bing Zhou, Xiaohong Jiang, Zhubo Liu, Ruiqi Shen, and Aleksandr V. Rogachev, Mater. Sci. Semicond. Process, 16, No. 2: 513 (2013); https://doi.org/10.1016/j.mssp.2012.05.001
- S. H. Woo and C. K. Hwangbo, Surf. Coat. Technol., 201, Nos. 19–20: 8250 (2007); https://doi.org/10.1016/j.surfcoat.2006.01.085
- H. S. Nalwa, Handbook of Thin Films (Five-Volume Set) (Academic Press: 2001).
- X. Tian, X. Cui, T. Lai, J. Ren, Z. Yang, M. Xiao, B. Wang, X. Xiao, and Y. Wang, NMS, 3, No. 4: 390 (2021); https://doi.org/10.1016/j.nanoms.2021.05.011
- N. K. Elumalai, M. A. Mahmud, D. Wang, and A. Uddin, Energies, 9, No. 11: 861 (2016); https://doi.org/10.3390/en9110861
- T. Wen, J. Gao, J. Shen, and Z. Zhou, J. Mater. Sci., 36, No. 1: 5923 (2001); https://doi.org/10.1023/A:1012989012840
- E. Traversa, G. Gnappi, A. Montenero, and G. Gusmano, Sens. Actuators B: Chem., 31, Nos. 1–2: 59 (1996); https://doi.org/10.1016/0925-4005(96)80017-7
- Robert Alan May, Ellipsometric and Nanogravimetric Porosimetry Studies of Nanostructured, Mesoporous Electrodes (Dissertation for Doctor of Philosophy) (The University of Texas at Austin: 2009).
- F. Scheepers, A. Stähler, M. Stähler, M. Carmo, W. Lehnert, and D. Stolten, JCTR, 16, No. 1: 1213 (2019); https://doi.org/10.1007/s11998-019-00206-5
- J. Ben Naceur, M. Gaidi, F. Bousbih, R. Mechiakh, and R. Chtourou, Curr. Appl. Phys., 12, Iss. 2: 422 (2012); https://doi.org/10.1016/j.cap.2011.07.041
- X. Zhang, Y. Zhang, Y. Wang, Q. Wang, Z. Liu, R. Geng, H. Wang, W. Jiang, and W. Ding, J. Alloys Compd., 929, No. 1: 167278 (2022); https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2022.167278
- S. Banerjee, E. Adhikari, P. Sapkota, A. Sebastian, and S. Ptasinska, Mater., 13, No. 13: 2931 (2020); https://doi.org/10.3390/ma13132931
- Yu-Hsiang Wang, Kazi Hasibur Rahman, Chih-Chao Wu, and Kuan-Chung Chen, Catalysts, 10, No. 6: 598 (2020); https://doi.org/10.3390/catal10060598
- N. Mozaffari, S. H. Elahi, S. S. Parhizgar, N. Mozaffari, and S. M. Elahi, MRX, 6, No. 11: 116428 (2019); https://doi.org/10.1088/2053-1591/ab4662
- Fubao Zhang, Xianming Wang, Haonan Liu, Chunli Liu, Yong Wan, Yunze Long, and Zhongyu Cai, Applied Sciences, 9, No. 12: 2489 (2019); https://doi.org/10.3390/app9122489
- V. T. Lukong, K. Ukoba, and T. C. Jen, Int. J. Adv. Manuf. Technol., 122, Nos. 9–10: 3525 (2022); https://doi.org/10.1007/s00170-022-10043-3
- J. I. Larruquert, Optical Properties of Thin Film Materials at Short Wavelengths. Optical Thin Films and Coatings (Elsevier: 2018), p. 291–356; https://doi.org/10.1016/B978-0-08-102073-9.00007-2
- X. Teng, B. Liu, and T. Ichiye, Chem. Phys., 153, No. 10 (2020); https://doi.org/10.1063/5.0021472
- A. J. Haider, A. A. Najim, and M. A. H. Muhi, Opt. Commun., 370, No. 1: 263 (2016); https://doi.org/10.1016/j.optcom.2016.03.034
- O. Y. Ramírez-Esquivel, D. A. Mazón-Montijo, Z. Montiel-González, and F. S. Aguirre-Tostado, Sol. Energy Mater. Sol. Cells, 185: 392 (2018); https://doi.org/10.1016/j.solmat.2018.05.029