 |
|||||||||
 |
2021, том 19, выпуск 4 |
|
|||||||
|
|||||||||
Выпуски/2021/том 19 /выпуск 4 |
Ahmad Al-Hamdan, Ahmad Al-Falah, Fawaz Al-Deri, and Marwa Al-Kheder
«Fabrication and Characterization of Poly(2-Formylpyrrole) Nanoparticles’ Thin Films by Anchoration
»
0913–0922 (2021)
PACS numbers: 68.37.Ps, 68.55.jd, 73.61.Ph, 78.40.Me, 82.35.Cd, 82.45.Wx
Тонкі плівки полімерних наночастинок виготовляються шляхом закріплення полімеру з реакційного розчину (мономер, спирт і соляна кислота). Товщина плівки збільшується з часом і концентрацією мономера та кислоти, і вона зменшується за великих концентрацій кислоти. Плівки мають шерстку поверхню та піки, що в кілька разів перевищують товщину. Тонкі плівки утворюються на підкладинці з золота, звичайного скла та кварцу. Товщина плівки становить від 106 нм до 1296 нм. За даними електрохемічної імпедансної спектроскопії активні електроопори плівок становлять 1090, 235, 176 і 157 (± 12%) Ом за товщини у 780, 487, 102 і 65 нм відповідно, а двошарова ємність становить близько 149±0,02 µF/cm2.
полімерні тонкі плівки, прикріплення, 2-формільний піррол, поліформіл піррол
References
1. J. Kim, D. Sohn, Y. Sung, and E. R. Kim, Synthetic Metals, 132, Iss. 2: 309 (2003); doi:10.1149/ma2014-02/28/1563
2. M. Gita Rani, International Journal of Advanced Science and Research, 3, Iss. 3: 6 (2018).
3. S. Glenis, M. Benz, E. LeGoff, J. L. Schindler, C. R. Kannewurf, and M. G. Kanatzidis, Journal of ACS, 115, Iss. 26: 12519 (1993); doi:10.1021/ja00079a035
4. S. C. Hernandez, InterScience, 19, Iss. 19–20: 2125 (2007).
5. Y.-P. Zhang, S.-H. Lee, K. R. Reddy, A. I. Gopalan, and K.-P. Lee, Journal of Applied Polymer Science, 104, Iss. 4: 2743 (2007); doi:10.1002/app.25938
6. J. C. Zhang, X. Zheng, M. Chen, X. Y. Yang, and W. L. Cao, Express Polymer Letters, 5, Iss. 5: 401 (2011); doi:10.3144/expresspolymlett.2011.39
7. S. Panero, S. Passerini, and B. Scrosati, Molecular Crystals and Liquid Crystals: Science and Technology, 229, Iss. 1: 97 (1993); doi:10.1080/10587259308032182
8. T. Kasa and F. Gebrewold, Advances in Physics Theories and Applications, 62: 28 (2017); https://www.iiste.org/Journals/index.php/APTA/article/view/35835/36830
9. G. H. Shim and S. H. Foulger, Photonics and Nanostructures—Fundamentals and Applications, 10, Iss 4: 440 (2012); doi:10.1016/j.photonics.2011.12.001
10. A. Rudge, J. Davey, I. Raistrick, S. Gottesfeld, and J. P. Ferraris, Journal of Power Sources, 47, Iss. 1–2: 89 (1994); doi:10.1016/0378-7753(94)80053-7
11. L. Duan, J. Lu, W. Liu, P. Huang, W. Wang, and Z. Liu, Physicochemical and Engineering Aspects, 414, Iss. 2: 98 (2012); doi:10.1016/j.colsurfa.2012.08.033
12. G. Bayramoğlu, M. Karakışla, B. Altıntaş, A. U. Metin, M. Saçak, and M. Y. Arıca, Process Biochemistry, 44, Iss. 8: 880 (2009); doi:10.1016/j.procbio.2009.04.011
13. H. Gherras, A. Yahiaoui, A. Hachemaoui, A. Belfeda, A. Dehbi, and A. I. Mourad, Journal of Semiconductors, 39, Iss. 10: 102001-1 (2018); doi:10.1088/1674-4926/39/10/102001
14. X. Ding, F. Tan, H. Zhao, M. Hua, M. Wang, Q. Xin, and Y. Zhang, Journal of Membrane Science, 570–571: 53 (2019); doi:10.1016/j.memsci.2018.10.033
15. T. C. Kang, J. K. Park, B. H. Kim, J. J. Lee, H. Choi, H. J. Lee, and J. G. Yook, Measurement, 137, Iss. 1: 272 (2019); doi:10.1016/j.measurement.2019.01.032
16. B. Fernández, R. Pereiro, and A. Sanz-Medel, Analytica Chimica Acta, 679, Iss. 1–2: 7 (2010); doi:10.1016/j.aca.2010.08.031
17. M. Alsultan, J. Choi, R. Jalili, P. Wagner, and G. F. Swiegers, Molecular Catalysis, 490, Iss. 1: 110955 (2020); doi:10.1016/j.mcat.2020.110955
18. A. Al-Hamdan, A. Al-Falah, and F. Al-Deri, Int. J. Thin Films Sci. Tech., 10, Iss. 2: 101 (2021); http://dx.doi.org/10.18576/ijtfst/100205
19. Y. Fu, Y. Lin, T. Chen, and L. Wang, Journal of Electroanalytical Chemistry, 687, Iss. 1: 25 (2012); doi:10.1016/j.jelechem.2012.09.040
20. J. Huang, X. Liu, Y. Lu, Y. Zhou, J. Xu, J. Li, and W. Song, 184, Iss 1: 73 (2018); doi:10.1016/j.solmat.2018.04.002
21. E. Klein, K. Huber, O. Paul, and P. Ruther, Thin Solid Films, 693, Iss. 1: 137715 (2019); doi:10.1016/j.tsf.2019.137715
22. D. R. Talham, Chemical Reviews, 104, Iss. 11: 5479 (2004); doi:10.1021/cr030665u
23. R. Ravindranath, P. K. Ajikumar, R. C. Advincula, W. Knoll, and S. Valiyaveettil, Langmuir, 22, Iss. 21: 9002 (2006); doi:10.1021/la060539w
 Усі статті ліцензовано на умовах Ліцензії Creative Commons із зазначенням авторства — без похідних 4.0 Міжнародна ©2003—2021 НАНОСИСТЕМЫ, НАНОМАТЕРИАЛЫ, НАНОТЕХНОЛОГИИ Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова Национальной Академии наук Украины. Електрона пошта: tatar@imp.kiev.ua Телефони та адреса редакції Про збірник Угода користувача |