Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

V. B. Molodkin, A. I. Nizkova, E. I. Bogdanov, S. V. Dmitriev, V. V. Lizunov, E. S. Skakunova, N. G. Tolmachev, Y. V. Vasylyk, A. G. Karpov, O. G. Voitok, V. P. Pochekuev
«Creation of the Integrated Dynamical Diffractometry Basics for Micro- and Nanoinhomogeneities of Crystal Structure with Defects and Disturbed Surface Layer»
0261–0275 (2017)

PACS numbers: 61.05.C-, 61.72.Dd, 61.72.J-, 62.82.Fk, 68.35.Ct, 81.07.-b, 85.40.-e

Розроблено і реалізовано практично на основі використання виявлених ефектів асиметрії азимутальної залежности повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції підхід для неруйнівної діягностики профілю неоднорідного розподілу мікродефектів у монокристалах. Зокрема, вперше одержано профіль розподілу мікродефектів (преципітатів і дислокаційних петель без обмежень на їхні розміри) за глибиною динамічного розсіювального шару монокристалу, а також показано принципову можливість і фактично визначено кінетику зміни його складної структури після оброблення високоенергетичними електронами.