Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

O. M. Bordun, I. O. Bordun, I. J. Kukharskyy, V. V. Ptashnyk, Zh. Ia. Tsapovska, and D. S. Leonov
«Structure and Vibrational Spectra of Thin Films Y2O3:Eu»
0027–0036 (2017)

PACS numbers: 42.30.-d, 63.22.dc, 68.37.Ps, 78.20.Ci, 78.30.-j, 78.60.Hk, 81.15.-z

Досліджено структуру поверхні тонких плівок Y2O3:Eu, одержаних методою ВЧ-йонно-плазмового напорошення, при зміні концентрації активатора в межах 1,0–7,5 мол.%. Виміряно спектри ІЧ-відбивання одержаних систем тонка плівка Y2O3:Eu–підкладинка з топленого кварцу ?-SiO2 у спектральній області 400–1600 см–1 при Т???295 К. Проведено інтерпретацію смуг, пов’язаних з коливними процесами у плівках Y2O3:Eu. Встановлено, що смуги ІЧ-відбивання з максимумами в області 1218 і 1253 см–1 є достатньо чутливими до зміни концентрації активатора Eu3?, розміру кристалітів, які формують плівку, та структурної досконалости одержаних плівок.