Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

M. Yu. Bobyk, V. P. Ivanitsky, M. M. Ryaboshchuk, and O. Ya. Svatyuk
«Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images»
0085–0097 (2015)

PACS numbers: 07.78.+s, 61.05.J-, 61.05.jd, 61.43.Dq, 68.37.Lp, 68.55.jd, 87.64.Ee

Запропоновано новий метод експериментального визначення амплітуди контрастного значення електронно-мікроскопічних зображень для аморфних матеріалів. Були одержані математичні співвідношення для розрахунку внесків різних механізмів розсіювання електронів на досліджуваному об’єкті в контраст на основі відповідних електронограм. Для аморфних плівок As40Se60 були знайдені експериментально частки внесків пружньо когерентно, пружньо некогерентно та непружньо розсіяних електронів у контраст.