Випуски

 / 

2014

 / 

том 12 / 

випуск 3

 



Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

В. В. Лизунов, С. М. Бровчук, А. И. Низкова, В. Б. Молодкин, С. В. Лизунова, Б. В. Шелудченко, А. И. Гранкина, И. И. Рудницкая, С. В. Дмитриев, Н. Г. Толмачев, Р. В. Лехняк, Л. Н. Скапа, Н. П. Ирха
«Основы многопараметрической диагностики с использованием деформационных зависимостей полной интегральной интенсивности динамической дифракции»
0565–0584 (2014)

PACS numbers: 07.85.Jy, 61.05.cc, 61.05.cf, 61.05.cp, 61.46.Hk, 61.72.Dd, 81.07.Bc

В роботі побудовано напівфеноменологічні теоретичні моделі деформаційних залежностей (ДЗ) повної (Бреґґової і дифузної) інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції (ПІІДД) у кристалах з дефектами декількох типів для достатньо високого ступеня пружньої деформації в різних умовах дифракції. Показано достатню вибірковість чутливости цих ДЗ ПІІДД до того типу дефектів, що дає визначальний внесок у ПІІДД в обраних умовах дифракції та інтервалах зміни ступеня пружньої деформації. Це створює основу для розв’язання проблеми діагностики багатопараметричних систем шляхом керування цією вибірковістю ДЗ ПІІДД при комбінованому підході. Наведено результати практичної реалізації розробленого підходу.

©2003—2021 наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова Національної академії наук України.
Електрона пошта: tatar@imp.kiev.ua Телефони та адреса редакції про збірник Угода користувача