Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

І. М. Мудрак, Л. П. Сторожук, С. М. Махно, П. П. Горбик
«Електрофізичні та теплофізичні властивості наносистеми із структурою «ядро–оболонка» AgI/SiO2»
0819–0827 (2012)

PACS numbers: 62.23.Pq, 65.80.-g, 66.30.hd, 66.30.Qa, 72.60.+g, 72.80.Tm, 73.40.Qv

Досліджено електрофізичні та теплофізичні властивості нанокомпозитів AgI/SiO2 зі структурою «ядро–оболонка» (розмір ядра AgI???40 нм) в діяпазоні температур 300–450 К залежно від товщини оболонки діоксиду кремнію (5–15 нм). Встановлено залежність між температурою фазового ?????-переходу йодиду срібла із діелектричного до суперйонного стану і товщиною оболонки SiO2. З’ясовано, що електропровідність наносистеми AgI/SiO2 на порядок величини вища, ніж йодиду срібла у ?-фазі, і характеризується оберненою залежністю від товщини оболонки SiO2.