 |
|||||||||
 |
2012, том 10, випуск 2 |
|
|||||||
|
|||||||||
Випуски/2012/том 10 /випуск 2 |
Скачать полную версию статьи (в PDF формате)
М. А. Цысарь
«Исследование стекла системы Ag2O–B2O3 методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём»
0343–0349 (2012)
PACS numbers: 07.79.Cz, 68.35.Ct, 68.37.Ef, 81.40.Pq, 81.65.Ps, 81.30.Tx
Наведено дослідження скла системи Ag2O–B2O3. Показано, що можливо використовувати сканувальний тунельний мікроскоп для дослідження якости оброблення поверхні. Також розглянуто випадок перепаду висот при переході від матеріялу скла до матеріялу вставки Ni.
|
©2003—2021 наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова Національної академії наук України.
Електрона пошта: tatar@imp.kiev.ua Телефони та адреса редакції про збірник Угода користувача |