Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

Д. В. Кузенко, В. М. Ищук, А. И. Бажин*, Н. А. Спиридонов, В. В. Дорофеева
«Долговременная релаксация в пьезоэлектрической керамике ЦТС, обусловленная дефектами кристаллической решётки нанометрового масштаба»
0313–0319 (2012)

PACS numbers: 61.72.jn, 77.22.Ch, 77.22.Gm, 77.84.Dy, 81.05.Je, 81.40.Tv

Представлено результати вивчення довготривалої релаксації у п’єзо¬електричній кераміці Pb(Zr,Ti)O3 після припинення збудження (електричним полем, нагріванням, механічним стисканням). У процесі старіння відбувається зменшення діелектричної проникности за логаритмічним законом. Подібна поведінка пов’язується з релаксацією електричного заряду, що виділився при частковій деполяризації кераміки і який локалізувався на дефектах ґратниці нанометрового масштабу.