Випуски

 / 

2011

 / 

том 9 / 

випуск 2

 



Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

В. М. Пилипів, Б. К. Остафійчук, Т. П. Владімірова*, Є. М. Кисловський*, В. Б. Молодкін*, С. Й. Оліховський*, О. В. Решетник*, О. С. Скакунова*, С. В. Лізунова*
«Рентґенова динамічна дифрактометрія дефектної структури монокристалів ґранатів.»
0375–0408 (2011)

PACS numbers: 61.05.cс, 61.05.cp, 61.72.Dd, 61.72.jd, 61.72.Nn, 61.72.Qq, 75.50.Gg

Створено теоретичну базу сучасної кристалографії реальних мо-нокристалів зі складним базисом, яка враховує наявність різних структурних дефектів і дозволяє самоузгодженим чином описувати когерентну і дифузну складові дифракційних картин від таких кристалів. Розраховано комплексні структурні фактори і Фур’є-компоненти поляризовности досконалого кристалу ґадоліній-ґалійового ґранату Gd3Ga5O12 (ҐҐҐ) для набору рефлексів і двох характеристичних довжин хвиль Рентґенового випромінення. Досліджено залежності цих дифракційних параметрів від концентрацій антиструктурних дефектів і вакансій. Шляхом аналізи виміряних кривих дифракційного відбивання з використанням формул статистичної динамічної теорії дифракції в неідеальних кристалах встановлено характеристики як точкових дефектів, так і мі-кродефектів, а також відповідні їм дифракційні параметри дос-ліджуваного монокристалу ҐҐҐ.

©2003—2020 наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова Національної академії наук України.
Електрона пошта: tatar@imp.kiev.ua Телефони та адреса редакції про збірник Угода користувача