Випуски

 / 

2009

 / 

том 7 / 

випуск 3

 



Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

O. Yu. Semchuk, D. L. Vodopianov, and L. Yu. Kunitska O. O. Chuiko
«Features of Light Scattering by Surface Fractal Structures »
0793–0801 (2009)

PACS numbers: 05.45.Df, 41.20.Jb, 42.25.-p, 61.43.Hv, 68.35.Ct, 78.68.+m, 81.70.Fy

В рамках Кирхгоффової методи розраховано середній коефіцієнт розсіяння світла поверхневими фрактальними структурами. Для моделювання розсіювальної поверхні використовувалася двовимірна, обмежена смугою Вейєрштрассова функція. Виконано чисельні розрахунки середнього коефіцієнта розсіяння та побудовано індикатриси розсіяння для різних типів поверхонь та кутів падіння. Аналіза індикатрис розсіяння призводить до наступних висновків: розсіяння є симетричним відносно площини падіння; зі збільшенням ступеня калібрування поверхні картина розсіяння ускладнюється; найбільша інтенсивність розсіяної хвилі спостерігається в дзеркальному напрямку і, крім того, існують напрямки, в яких спостерігаються сплески інтенсивности.

©2003—2019 наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова Національної академії наук України.
Електрона пошта: tatar@imp.kiev.ua Телефони та адреса редакції про збірник Угода користувача