Synthesis and Characterization of Cadmium-Oxide Thin Films Prepared by Sol–Gel Spin Coating Method
201–209 (2026)
Індекси PACS: 78.20.Ci, 78.40.Fy, 78.66.-w, 79.20.Eb, 81.20.Fw, 81.40.Tv, 81.70.Fy
Одержано 28 листопада 2024 р.
У цій роботі плівки оксиду Кадмію було одержано нанесенням покриття методом центрифуґування. Дослідження зосереджено на з'ясуванні впливу зміни товщини плівки на оптичні властивості плівок оксиду Кадмію, нанесених на скляні підкладинки площею 1,52 см² за температури у 400°C. Також досліджено поведінку спектрів видимого й ультрафіолетового вбирання плівок оксиду Кадмію як функцій довжини хвилі. Ці результати показують, що інтенсивність вбирання зростає зі збільшенням товщини мембрани, що вказує на збільшення концентрації матеріялу мембрани. Також досліджено деякі оптичні константи, такі як показник заломлення та дійсна й уявна діелектричні константи, на додаток до коефіцієнта екстинкції й електропровідности. Було виявлено, що всі їхні значення змінюються зі збільшенням товщини плівки. За допомогою спектру вбирання було розраховано ширину оптичної забороненої зони та виявлено, що спостерігається незначна зміна зі збільшенням товщини плівки, оскільки її значення зменшується з 2,22 еВ до 2,20 еВ, коли товщина плівки збільшується від 143 нм до 368 нм.
КЛЮЧОВІ СЛОВА: оксид Кадмію, одержані методом центрифуґування покриття, заборонена енергетична зона, спектер вбирання
Фінансування / Подяки:
Автори висловлюють найщирішу подяку Університету Мосула, природничому факультету, кафедрі фізики за підтримку цієї роботи.
ПОСИЛАННЯ
- M. Abed Al-Jubbori, Omar Ayed, and Kh. Ajaj, Radiation Physics and Chemistry, 226: 112190 (2025); https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2024.112190
- M. Soylu and H. S. Kader, J. Electron. Mater., 45, No. 11: 5756 (2016); https://doi.org/10.1007/s11664-016-4819-4
- J. K. Rajput, T. K. Pathak, V. Kumar, and L. P. Purohit, Appl. Surf. Sci., 409: 8 (2017); https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.03.019
- M. Ramamurthy, M. Balaji, and P. Thirunavukkarasu, Optik, 127, No. 8: 3809 (2016); https://doi.org/10.1016/j.ijleo.2016.01.031
- N. Kati, Mater. Sci. Pol., 37, No. 1: 136 (2019); https://doi.org/10.2478/msp-2018-0104
- S. Park, C. H. Kim, W. J. Lee, S. Sung, and M. H. Yoon, Mater. Sci. Eng. R Rep., 114: 1 (2017); https://doi.org/10.1016/j.mser.2017.01.003
- J. K. Rajput, T. K. Pathak, V. Kumar, H. C. Swart, and L. P. Purohit, Phys. B: Condensed Matter, 535: 314 (2018); https://doi.org/10.1016/j.physb.2017.08.014
- R. P. Madden, L. R. Canfield, and G. Hass, J. Opt. Soc. Am., 53: 620 (1963); https://doi.org/10.1364/JOSA.53.000620
- Yunxia Wang, Hongling Wang, and Fengyuan Yan, Surf. Interface Anal., 41: 399 (2009).
- M. Fernández-Rodríguez, V. J. Rico, A. R. González-Elipe, and A. Álvarez-Herrero, phys. stat. sol. (c), 5: 1164 (2008); https://doi.org/10.1002/pssc.200777790
- A. P. Bradford, G. Hass, M. McFarland, E. Ritter, A. P. Bradford, G. Hass, and M. McFarland, Appl. Opt., 4: 971 (1965); https://doi.org/10.1364/AO.4.000971
- Khalaf Ajaj, Mushtaq Abed Al-Jubbori, and Abdullah M. Ali, Radiation Physics and Chemistry, 216: 111384 (2024); https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2023.111384
- Q. Zhou, Z. Ji, B. Hu, C. Chen, L. Zhao, and C. Wang, Mater. Lett., 61, No. 2: 531 (2007); http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2006.05.004