Завантажити повну версію статті (PDF) Відкритий доступ
Природничий факультет, кафедра фізики, Університет Мосула, 41001 Мосул, Ірак

Synthesis and Characterization of Cadmium-Oxide Thin Films Prepared by Sol–Gel Spin Coating Method

201–209 (2026)

Індекси PACS: 78.20.Ci, 78.40.Fy, 78.66.-w, 79.20.Eb, 81.20.Fw, 81.40.Tv, 81.70.Fy

У цій роботі плівки оксиду Кадмію було одержано нанесенням покриття методом центрифуґування. Дослідження зосереджено на з'ясуванні впливу зміни товщини плівки на оптичні властивості плівок оксиду Кадмію, нанесених на скляні підкладинки площею 1,52 см² за температури у 400°C. Також досліджено поведінку спектрів видимого й ультрафіолетового вбирання плівок оксиду Кадмію як функцій довжини хвилі. Ці результати показують, що інтенсивність вбирання зростає зі збільшенням товщини мембрани, що вказує на збільшення концентрації матеріялу мембрани. Також досліджено деякі оптичні константи, такі як показник заломлення та дійсна й уявна діелектричні константи, на додаток до коефіцієнта екстинкції й електропровідности. Було виявлено, що всі їхні значення змінюються зі збільшенням товщини плівки. За допомогою спектру вбирання було розраховано ширину оптичної забороненої зони та виявлено, що спостерігається незначна зміна зі збільшенням товщини плівки, оскільки її значення зменшується з 2,22 еВ до 2,20 еВ, коли товщина плівки збільшується від 143 нм до 368 нм.

КЛЮЧОВІ СЛОВА: оксид Кадмію, одержані методом центрифуґування покриття, заборонена енергетична зона, спектер вбирання

Фінансування / Подяки:
Автори висловлюють найщирішу подяку Університету Мосула, природничому факультету, кафедрі фізики за підтримку цієї роботи.

Цитування:
Mohammed Al-Badrani, Yasir Yahya Kassim, and Mutaz Salih Hasan Aljuboori, Synthesis and Characterization of Cadmium-Oxide Thin Films Prepared by Sol–Gel Spin Coating Method, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 24, No. 1: 201–209 (2026); https://doi.org/10.15407/nnn.24.01.0201
ПОСИЛАННЯ
  1. M. Abed Al-Jubbori, Omar Ayed, and Kh. Ajaj, Radiation Physics and Chemistry, 226: 112190 (2025); https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2024.112190
  2. M. Soylu and H. S. Kader, J. Electron. Mater., 45, No. 11: 5756 (2016); https://doi.org/10.1007/s11664-016-4819-4
  3. J. K. Rajput, T. K. Pathak, V. Kumar, and L. P. Purohit, Appl. Surf. Sci., 409: 8 (2017); https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2017.03.019
  4. M. Ramamurthy, M. Balaji, and P. Thirunavukkarasu, Optik, 127, No. 8: 3809 (2016); https://doi.org/10.1016/j.ijleo.2016.01.031
  5. N. Kati, Mater. Sci. Pol., 37, No. 1: 136 (2019); https://doi.org/10.2478/msp-2018-0104
  6. S. Park, C. H. Kim, W. J. Lee, S. Sung, and M. H. Yoon, Mater. Sci. Eng. R Rep., 114: 1 (2017); https://doi.org/10.1016/j.mser.2017.01.003
  7. J. K. Rajput, T. K. Pathak, V. Kumar, H. C. Swart, and L. P. Purohit, Phys. B: Condensed Matter, 535: 314 (2018); https://doi.org/10.1016/j.physb.2017.08.014
  8. R. P. Madden, L. R. Canfield, and G. Hass, J. Opt. Soc. Am., 53: 620 (1963); https://doi.org/10.1364/JOSA.53.000620
  9. Yunxia Wang, Hongling Wang, and Fengyuan Yan, Surf. Interface Anal., 41: 399 (2009).
  10. M. Fernández-Rodríguez, V. J. Rico, A. R. González-Elipe, and A. Álvarez-Herrero, phys. stat. sol. (c), 5: 1164 (2008); https://doi.org/10.1002/pssc.200777790
  11. A. P. Bradford, G. Hass, M. McFarland, E. Ritter, A. P. Bradford, G. Hass, and M. McFarland, Appl. Opt., 4: 971 (1965); https://doi.org/10.1364/AO.4.000971
  12. Khalaf Ajaj, Mushtaq Abed Al-Jubbori, and Abdullah M. Ali, Radiation Physics and Chemistry, 216: 111384 (2024); https://doi.org/10.1016/j.radphyschem.2023.111384
  13. Q. Zhou, Z. Ji, B. Hu, C. Chen, L. Zhao, and C. Wang, Mater. Lett., 61, No. 2: 531 (2007); http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2006.05.004