Завантажити повну
версію статті (в PDF форматі)
O. М. BORDUN1, I. О. BORDUN1, I. I. MEDVID1, D. M. MAKSYMCHUK1, I. Yo. KUCHARSKYY1, I. М. KOFLIUK1, and D. S. LEONOV2
1Львівський національний університет імені Івана Франка, вул. Драгоманова, 50, 79005 Львів, Україна
2Технічний центр НАН України, вул. Покровська, 13, 04070 Київ, Україна
Surface Morphology and Low-Temperature Luminescence of Thin (Y0.06Ga0.94)2O3:Cr3+ Films
437–448 (2025)
PACS numbers: 61.72.Mm, 68.37.Ps, 68.55.J-, 78.55.Hx, 78.60.Lc, 81.15.Cd, 81.40.Tv
Методом високочастотного (ВЧ) йонно-плазмового розпорошення в атмосфері арґону на аморфних підкладинках -SiO2 одержано тонкі плівки (Y0,06Ga0,94)2O3:Cr. Методом АСМ досліджено морфологію поверхні одержаних плівок. Проведено дослідження низькотемпературної (8,6 К) люмінесценції тонких плівок (Y0,06Ga0,94)2O3:Cr3+ через збудження синхротронним випроміненням (22,14 еВ і 7,75 еВ). Проаналізовано одержані спектри люмінесценції залежно від енергії збудження. Встановлено високоенергетичне зміщення R1-лінії у спектрах активаторного свічення йона Cr3+ у тонких плівках (Y0,06Ga0,94)2O3:Cr відносно такої для монокристалічних зразків. Дане зміщення проаналізовано у формі нефелоксетичного ефекту.
КЛЮЧОВІ СЛОВА: оксид Ґалію, оксид Ітрію, активаторний Хром, тонкі плівки, нанокристаліти, фотолюмінесценція, синхротронне випромінення
REFERENCES
- Z. Galazka, S. Ganschow, A. Fiedler, R. Bertram, D. Klimm, K. Irmscher, R. Schewski, M. Pietsch, M. Albrecht, and M. Bickermann, J. Cryst. Growth, 486: 82 (2018); https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2018.01.022
- M. He, Q. Zeng, and L. Ye, Crystals, 13, No. 10: 1434 (2023); https://doi.org/10.3390/cryst13101434
- V. Vasyltsiv, A. Luchechko, Y. Zhydachevskyy, L. Kostyk, R. Lys, D. Slobodzyan, R. Jakieła, B. Pavlyk and A. Suchocki, J. Vacuum Science & Technol. A, 39, No. 3: 033201 (2021); https://doi.org/10.1116/6.0000859
- S. Kumar and R. Singh, phys. status solidi (RRL), 7, No. 10: 781 (2013); https://doi.org/10.1002/pssr.201307253
- E. Nogales, J. A. García, B. Méндез, and J. Piqueras, J. Appl. Phys., 101, No. 3: 033517 (2007); https://doi.org/10.1063/1.2434834
- S. M. Xu, W. Ge, X. Zhang, P. Zhang, and Y. Li, J. of Luminescence, 246, 118831 (2022); https://doi.org/10.1016/j.jlumin.2022.118831
- R. Suzuki, S. Nakagomi, Y. Kokubun, N. Arai, and S. Ohira, Appl. Phys. Lett., 94, No. 22: 222102 (2009); https://doi.org/10.1063/1.3147197
- O. M. Bordun, B. O. Bordun, I. Yo. Kukharskyy, and I. I. Medvid, J. Appl. Spectrosc., 86, No. 6: 1010 (2020); https://doi.org/10.1007/s10812-020-00932-4
- D. Guo, Q. Guo, Z. Chen, Z. Wu, P. Li, and W. Tang, Materials Today Physics, 11: 100157 (2019); https://doi.org/10.1016/j.mtphys.2019.100157
- M. Alonso-Orts, E. Nogales, J. M. San Juan, M. L. Nó, J. Piqueras, and B. Mėndez, Phys. Rev. Appl., 9: 064004 (2018); http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevApplied.9.064004
- M. Crozzolin, C. Belloni, J. Xu, T. Nakanishi, J. Ueda, S. Tanabe, F. Dallo, E. Balliana, A. Saorin, F. Rizzolio, D. Cristofori, P. Riello, A. Benedetti, and M. Back, J. Mater. Chem. C, 12, No. 29: 10929 (2024); https://doi.org/10.1039/D4TC01386G
- D. M. Esteves, A. L. Rodrigues, L. C. Alves, E. Alves, M. I. Dias, Z. Jia, W. Mu, K. Lorenz, and M. Peres, Scientific Reports, 13: 4882 (2023); https://doi.org/10.1038/s41598-023-31824-0
- T. Minami, T. Nakatani, and T. Miyata, J. Vac. Sci. Technol. A, 18, No. 4: 1234 (2000); https://doi.org/10.1116/1.582332
- A. K. Saikumar, Sh. D. Nehate, and K. B. Sundaram, ECS J. of Solid State Science and Technol., 8, No. 7: Q3064 (2019); https://doi.org/10.1149/2.0141907jss
- O. M. Bordun, B. O. Bordun, I. I. Medvid, and I. Yo. Kukharskyy, Acta Physica Polonica A, 133, No. 4: 910 (2018); https://doi.org/10.12693/APhysPolA.133.910
- K. H. Choi and H. C. Kang, Materials Letters, 123: 160 (2014); https://doi.org/10.1016/j.matlet.2014.03.038
- T. Igarashi, M. Ihara, T. Kusunoki, K. Ohno, T. Isobe, and M. Senna, Appl. Phys. Lett., 76, No. 12: 1549 (2000); https://doi.org/10.1063/1.126092
- C. B. Willingham, J. M. Wahl, P. K. Hogan, L. C. Kupferberg, T. Y. Wong, and A. M. De, Proc. SPIE, 5078: 179 (2003); https://doi.org/10.1117/12.500986
- O. M. Bordun, I. M. Bordun, and S. S. Novosad, J. Appl. Spectr., 62, No. 6: 1060 (1995); https://doi.org/10.1007/BF02606760
- E. F. Armendáriz-Alonso, O. Meza, E. G. Villabona-Leal, and Elías Pérez, J. Sol–Gel Sci. and Technol., 111: 216 (2024); https://doi.org/10.1007/s10971-024-06450-5
- K. Wasa, M. Kitabatake, and H. Adachi, Thin Film Materials Technology: — Sputtering of Compound Materials (William Andrew Inc.: 2004)
- O. M. Bordun, B. O. Bordun, I. J. Kukharskyy, I. I. Medvid, O. Ya. Mylyo, M. V. Partyka, and D. S. Leonov, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 17, Iss. 1: 123 (2019); https://doi.org/10.15407/nnn.17.01.123
- https://photonscience.desy.de/facilities/petra_iii/beamlines/p66_superlumi/index_eng.html
- C. V. Thompson, Solid State Phys., 55: 269 (2001); https://doi.org/10.1016/S0081-1947(01)80006-0
- C. V. Thompson, J. Appl. Phys., 58: 763 (1985); https://doi.org/10.1063/1.336194
- O. M. Bordun, B. O. Bordun, I. Yo. Kukharskyy, I. I. Medvid, I. I. Polovynko, Zh. Ya. Tsapovska, and D. S. Leonov, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii, 19, Iss. 1: 159 (2021); https://doi.org/10.15407/nnn.19.01.159
- O. M. Bordun, I. I. Medvid, I. Yo. Kukharskyy, and B. O. Bordun, Phys. and Chem. of Solid State, 17, No. 1: 53 (2016); https://doi.org/10.15330/pcss.17.1.53-59
- E. Nogales, B. Méndez, and J. Piqueras, Appl. Phys. Lett., 86, No. 11: 113112 (2005); https://doi.org/10.1063/1.1883713
- H. Tang, N. He, Z. Zhu, M. Gu, B. Liu, J. Xu, M. Xu, L. Chen, J. Liu, and X. Ouyang, Appl. Phys. Lett., 115, No. 11: 071904 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5110535
- O. M. Bordun, B. O. Bordun, I. Yo. Kukharskyy, and I. I. Medvid, J. Appl. Spectrosc., 84, No. 1: 46 (2017); https://doi.org/10.1007/s10812-017-0425-3
- O. M. Bordun, V. G. Bihday, and I. Yo. Kukharskyy, J. Appl. Spectrosc., 80, No. 5: 721 (2013); https://doi.org/10.1007/s10812-013-9832-2
- J. B. Prasanna Kumar, G. Ramgopal, D. V. Sunitha, B. Daruka Prasad, H. Nagabhushana, Y. S. Vidya, K. S. Anantharaju, S. C. Prashantha, S. C. Sharma, and K. R. Prabhakara, Luminescence: J. Biol. Chem. Lum., 32, No. 3: 414 (2017); https://doi.org/10.1002/bio.3197
- O. M. Bordun, B. O. Bordun, I. Yo. Kukharskyy, D. M. Maksymchuk, and I. I. Medvid, Phys. and Chem. of Solid State, 24, No. 3: 490 (2023); https://doi.org/10.15330/pcss.24.3.490-494
- R. Rao, A. M. Rao, B. Xu, J. Dong, S. Sharma, and M. K. Sunkara, J. Appl. Phys., 98, No. 9: 094312 (2005); https://doi.org/10.1063/1.2128044
- B. M. Weckhuysen, P. Van Der Voort, and G. Catana, Spectroscopy of Transition Metal Ions on Surfaces (Leuven University Press: 2000).
- A. Luchechko, V. Vasyltsiv, Ya. Zhydachevskyy, M. Kushlyk, S. Ubizskii, and A. Suchocki, J. Phys. D: Appl. Phys., 53, No. 35: 354001 (2020); https://doi.org/10.1088/1361-6463/ab8c7d
- Y. Tokida and S. Adachi, J. Appl. Phys., 112, No. 6: 063522 (2012); https://doi.org/10.1063/1.4754517
- C. Remple, L. M. Barmore, J. Jesenovec, J. S. McCloy, and M. D. McCluskey, J. Vac. Sci. Teshnol. A, 41: 022702 (2023); https://doi.org/10.1116/6.0002340
- H. Yusa and M. Miyakawa, J. Appl. Phys., 137, No. 3: 035902 (2025); https://doi.org/10.1063/5.0246260
- D. Vollath, F. D. Fischer, and D. Holec, Beilstein J. Nanotechnol., 9: 2265 (2018); https://doi.org/10.3762/bjnano.9.211
- P. J. Dereń, A. Watras, and D. Stefańska, Opt. Spectrosc., 131: 795 (2023); https://doi.org/10.1134/S0030400X23070032
- J. G. Zhang, B. Li, C. T. Xia, J. Xu, Q. Deng, X. D. Xu, F. Wu, W. S. Xu, H. S. Shi, G. Q. Pei, and Y. Q. Wu, Sci. China Ser. E-Tech. Sci., 50, No. 1: 51 (2007); https://doi.org/10.1007/s11431-007-2026-5
- C. K. Jørgensen, The Nephelauxetic Series P. 73–124 Progress in Inorganic Chemistry (Ed. F. A. Cotton) (New York–London: Interscience Publishers: 1962), vol. 4.
- M. G. Brik, S. J. Camardello, A. M. Srivatsava, N. M. Avram, and A. Suchotcki, ECS J. Solid State. Sci. Technol., 5: R3067 (2016); https://doi.org/10.1149/2.0091601jss
|