|
||||||||||||||||||||||||
Скачать полную версию статьи (в PDF формате)
Н. И. Ходаковский, С. Ю. Ларкин, Г. Г. Галстян* В работе исследованы зондовые методы построения наноэлектрон-ных приборов и их диагностики с использованием электростати-ческой силовой микроскопии. Рассмотрены пути повышения инфор-мативности измерений распределений зарядов и потенциалов в процессе получения элементов наноструктур. |
||||||||||||||||||||||||
|