Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

Yu. P. GOMZA, V. V. KLEPKO, S. D. NESIN, E. A. LYSENKOV, Yu. A. KUNYTS’KY, M. Yu. BARABASH, and L. G. KHOMENKO
«X-Ray Examinations of Short-Range Ordering of Ultra-thin Films »
0411–0419 (2009)

PACS numbers: 07.85.Jy, 61.05.cp, 61.41.Vx, 68.47.Pe, 68.55.am, 68.55.J-, 81.70.Pg

С использованием стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реализована методика изучения особенностей ближней упорядоченности материала сверхтонких эпитаксиальных пленок с использованием геометрии параллельных скользящих лучей в условиях полного внешнего отражения. Проведены эксперименты по изучению особенностей ближней упорядоченности полимерных и неорганических пленок толщиной 200–500 нм на подложках различной природы.