INSTITUTE OF METAL PHYSICS OF NASU.

Back

PUBLICATIONS

1.

Интегральная трехкристальная рентгеновская дифрактометрия монокристаллов с микродефектами

Металлофизика и новейшие технологии, 2000, 22, №2, с.42-50

Немошкаленко В.В.
Молодкин В.Б.
Олиховский С.И.
Грищенко Т.А.
Когут М.Т.
Первак Е.В.

2.

Энергодисперсионная дифрактометрия тонких несовершенных монокристаллов в условиях Лауэ-дифракции

Металлофизика и новейшие технологии, 2000, 22, №2, с.71-78

Немошкаленко В.В.
Молодкин В.Б.
Олиховский С.И.
Когут М.Т.
Шелудченко Л.М.
Первак Е.В.

3.

Диференційна рентгенівська дифракційна діагностика складної дефектної структури в монокристалах кремнію

Металлофизика и новейшие технологии, 2000, 22, №6, с.3-19

Оліховський С.Й.
Молодкін В.Б.
Шпак А.П.
Лень Є.Г.
Владімірова Т.П.

4.

Спостереження і опис осциляцій інтенсивності дифузного розсіяння від мікродефектів в кремнії

Металлофизика и новейшие технологии, 2000, 22, №7, с.21-30

Оліховський С.Й.
Молодкін В.Б.
Лень Є.Г.
Владімірова Т.П.

5.

Комплексне дослідження дефектів у високодосконалих монокристалах кремнію

Оптоэлектроника и полупроводниковая техника, 2000, 3, №3, с.275-281

Прокопенко І.В.
Оліховський С.Й.
Ткач В.М.
Литвин П.М.
Владімірова Т.П.

6.

Double-Crystal X-Ray Diffractometry of Single Crystals with Microdefects

J. Phys. D: Applied Physics, 2001, 34, №10 A, p.A82-A87

Molodkin V.B.
Olikhovskii S.I.
Krivitsky V.P.
та інші
всього 8 осіб

7.

Bragg Diffraction of X-Rays by Single Crystals with Large Microdefects, I. Generalized Dynamical Theory

Physica Status Solidi, (b), 2001, 227, №2, p.429-447

Molodkin V.B.
Olikhovskii S.I.
Len E.G.
Pervak E.V.

8.

Bragg Diffraction of X-Rays by Single Crystals with Large Microdefects, II. Amplitude and Intensity of Dynamical Diffuse Scattering

Physica Status Solidi,   2002, 231, №1, p.199-212

Olikhovskii S.I.
Molodkin V.B.
Len’ E.G.
Pervak E.V.

9.

Bragg Diffraction of X-Rays by Single Crystals with Large Microdefects, III. High-Resolution Diffraction Mesurements

Physica Status Solidi,   2002, 231, №1, p.213-221

Olikhovskii S.I.
Molodkin V.B.
Nemoskalenko V.V.
та інші всього 9 осіб

10.

X-Ray Diffraction Investigations of In_xGa_1-xAs_1-yN/GaAs Multilayered Structures

Металлофизика и новейшие технологии, 2002, 24, №4, c.477-496

Molodkin V.B.
Pessa M.
Pavelescu E.M.
та інші
всього 10 осіб

11.

Пат. 44121А Україна

МПК7 G01N23/20.

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів

Власник Ін-т металофізики НАНУ. – № 2001053183;

заявл. 14.05.2001; опубл. 15.01.2002, Бюл. № 1.

Немошкаленко В.В.
Молодкін В.Б.
Кисловський Є.М.
Оліховський С.Й.
та інші всього 9 осіб

12.

Suppression of interfacial atomic diffusion in InGaNAs/GaAs heterostructures grown by molecular-beam epitaxy

Applied Physics Letters, 2002, 80 (25), P. 4720–4722

C.S. Peng,
E.M. Pavelescu,
T.Jouhti,
J. Konttinen,
I. Fodchuk,
Y.Kyslovsky,
M. Pessa

13.

High Resolution X-Ray Diffraction Investigations of Silicon Grown by the Float-Zone Method

Металлофизика и новейшие технологии, 2002, 24, №4, c.543-556

Molodkin V.B.
Ando H.
Olikhovskii S.I.
та інші
всього 9 осіб

14.

Міжшарова взаємодія у багатошарових структурах
In_xGa_1-_xAs_1-_y за даними двокристальної Х-променевої дифрактометрії

Науковий вісник ЧДУ, вип. 157, Фізика. Електроніка– Чернівці: ЧДУ, 2003. с. 5-18.

Фодчук І.М.
Кройтор О.П.
Гевик В.Б.
та інші
всього 9 осіб

15.

Структура многослойных систем In_xGa_1-_xAs_1-_yN/GaAs по данным двухкристальной рентгеновской дифрактометрии

Металлофизика и новейшие технологии, 2002, 25, №9, c.1219-1231

Фодчук И.М.
Кройтор О.П.
Гевик В.Б.
та інші
всього 9 осіб

16.

Двухкристальная рентгеновская дифрактометрия наноразмерных многослойных систем

Металлофизика и новейшие технологии, 2002, 25, №12, c.1605-1616

Молодкин В.Б.
Олиховский С.И.
Фодчук И.М.
Гевик В.Б.
Журавлев Б.Ф.

17.

Структурные изменения в пористых кристаллах после ионной имплантации

Металлофизика и новейшие технологии, 2004, 26, № 8, С. 1069 – 1080.

И.В. Литвинчук,
И.М. Фодчук,
З. Свянтек
Т.П. Владимирова
В.Б. Молодкин

18.

Вплив дефектів в монохроматорі на криві дифракційного відбиття високороздільної двокристальної рентгенівської дифрактометрії

Металлофизика и новейшие технологии, 2004, 26, № 9, С. 1241 – 1254.

С.Й. Оліховський
В.Б. Молодкін
Є.Г. Лень
Т.П. Владімірова
О.В. Решетник
М.І. Дзюбленко

19.

Ефекти дифузного розсіяння від дефектів у багатошарових структурах з квантовою ямою

Металлофиз. новейшие технол. – 2005. – Т. 27, №2. – С.197–216.

Оліховський С.Й.
Молодкін В.Б.
Фодчук І.М.
Скакунова О.С.
Первак К.В.

20.

Визначення рентгенодифракційних параметрів монокристалів гранатів по кривих дифракційного відбиття

Металлофизика и новейшие технологии –2005. – Т. 27, № 2. – С. 217?231.

Кисловський Є.М.
Оліховський С.Й.
Молодкін В.Б.
та інші, всього 8 осіб

21.

Дифузне розсіяння рентгенівських променів у іонно-імплантованих кристалах

Металлофизика и новейшие технологии –2005. – Т. 27, № 5. – С. 653-674.

Оліховський С.Й.
Молодкін В.Б.
Кисловський Є.М.
Лень Є.Г.
та інші, всього 7 осіб

22.

Основи динамічної дифрактометрії мікродефектів у кожному шарі гетероструктури з квантовою ямою та ефектів сегрегації і взаємодифузії

Металлофиз. новейшие технол. – 2005. – Т. 27, №6. – С.721–742.

Шпак А.П.
Молодкін В.Б.
Оліховський С.Й.
Кисловський Є.М.
та інші, всього 7 осіб

23.

Роль об’ємних дефектів і деформацій в приповерхневих шарах трьох монокристалів у формуванні профілів трикристальної рентгенівської дифрактометрії

Металлофизика и новейшие технологии – 2005. – Т.27, №7. –с. 949-970.

Оліховський С.Й.
Молодкін В.Б.
Кисловський Є.М.
та інші, всього 10 осіб

24.

Аналітичний опис дифузних піків на профілях трикристальної рентгенівської дифрактометрії від монокристалів з мікродефектами

Металлофизика и новейшие технологии – 2005. – Т.27, №9. –с. 1251?1264.

Оліховський С.Й.
Молодкін В.Б.
Кисловський Є.М.
та інші, всього 9 осіб

25.

Дифрактометрия наноразмерных дефектов и гетерослоев кристаллов

Киев: Академпериодика, 2005. – 364 с.

Молодкин В.Б.
Низкова А.И.
Шпак А.П.
Кисловський Є.М.
та інші всього 13 осіб

26.

Комплексная двух- и трехкристальная рентгеновская дифрактометрия с учетом микродефектов и нарушенных поверхностных слоев во всех кристаллах рентгенооптических схем

Металлофиз. новейшие технол., 2006, 28, №9, С. 1209-1228

Шпак А.П.
Молодкин В.Б.
Кисловский Е.Н.
та інші всього 8 осіб

27.

Evolution of the microdefect structure in silicon at isothermal annealing as determined by X-ray diffractometry

Phys. Status Solidi А, 2007, 204, №8, P. 2591-2597

Kyslovskyy Ye.M. Vladimirova T.P.
Molodkin V.B.
Kochelab E.V.
Seredenko R.F.

28.

Dynamical theory of X-ray diffraction by multilayered structures with microdefects

Phys. Status Solidi А, 2007, 204, №8, P. 2606-2612

Molodkin V.B.
Kislovskii E.N.
Fodchuk I.M.
Skakunova E.S.
Pervak E.V.
Molodkin V.V.

29.

Combined double- and triple-crystal X-ray diffractometry with account for real defect structures in all crystals of X?ray optical schemes

Phys. Status Solidi А, 2007, 204, №8, P. 2651-2656

Shpak A.P.
Molodkin V.B.
Kyslovskyy Ye.M.
та інші
всього 10 осіб

30.

Вплив дефектів у монохроматорі на профілі трикристальної рентгенівської дифрактометрії

Металлофиз. новейшие технол., 2007, 29, №5, С. 701-710

Кисловський Є.М., Решетник О.В., Владімірова Т.П., Молодкін В.Б.,
Шелудченко Б.В., Середенко Р.Ф., Скакунова О.С.

31.

Модифікований динамічний модель високороздільної двокрис-тальної рентгенівської дифрактометрії мікро-дефектів у монокристалах

Металлофиз. новейшие технол., 2007, 29, №6, С. 711-726

Владімірова Т.П., Середенко Р.Ф., Молодкін В.Б.,
Кисловський Є.М.

32. Dynamical theoretical model of the high-resolution double-crystals with microdefects Phys.Rev.B, 2008,78, No 22, 224109 Molodkin V.B.,
Olikhovskii S.I.
Kislovskii E.N.,
Vladimirova T.P.,
Skakunova E.S.
Seredenko R.F.
Sheludchenko B.V

33

Природа чутливості високороздільної двокристальної дифрактометрії до характеристик декількох типів дефектів в кристалах та їх еволюції після термовідпалу

Металлофиз. новейшие технол., 2008, 29, № 6, С. 721-747

Кисловський Є.М.,
Владімірова Т.П.,
Молодкін В.Б.,
Середенко Р.Ф.,
Кочелаб Є.В.,
Когут М.Т.

34 Пат. 89594 Україна МПК (2009) G01N 23/20.Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів власник Ін-т металофізики НАНУ. – № a200814201; заявл. 10.12.2008; опубл. 10.02.2010, Бюл. № 3. Шпак А.П.,
Ковальчук М.В.,
Молодкін В.Б.,
та інші, всього 11 осіб.

35

Sensitivity of triple-crystal X?ray diffractometers to microdefects in silicon

Phys. Status Solidi. А, 2009, 206, No. 8, P. 1761-1765

Molodkin V.B.,
Len E.G.,
Kislovskii E.N.,
Kladko V.P.,
Reshetnyk O.V.,
Vladimirova T.P.,
Sheludchenko B.V.

36

X-ray diffuse scattering effects from Coulomb-type defects in multilayered structures

Phys. Stat. Solidi A, 2009, 206, No. 8, P. 1790-1794

Molodkin V.B.
Skakunova E.S.
Kislovskii E.N.
Fodchuk I.M.

37 Dynamical Bragg and Diffuse Scattering Effects and Implications for Diffractometry in the Twenty-First Century // Diffuse Scattering and the Fundamental Properties of Materials Ed. by R.I. Barabash, G.E. Ice, and P.E.A. Turchi. – New Jersey: Momentum Press, 2009. – P. 391-434 Molodkin V.B.,
Kovalchuk M.V.,
Shpak A.P.,
Kyslovskyy Ye.M.,
Nizkova A.I.,
Len E.G.,
Vladimirova T.P.,
Skakunova E.S.,
Molodkin V.V.,
Ice G.E.,
Barabash R.I.,
Karnaukhov I.M.

38 Новые диагностические возможности деформационных зависимостей интегральной интенсивности рассеяния кристаллами с дефектами для Лауэ-дифракции в области К-края поглощения Металлофиз. новейшие технол., 2009, T.31, № 7, С. 927–945
А.П.Шпак, В.Б.Молодкин, М.В.Ковальчук,
та інші, всього 11 осіб.

39

Новые диагностические возможности деформационных зависимостей интегральной интенсивности рассеяния кристаллами с дефектами для Лауэ-дифракции в условиях нарушения закона Фриделя

Металлофиз. новейшие технол., 2009, T.31, № 8, С. 1041–1049

А.П.Шпак, В.Б.Молодкин, М.В.Ковальчук,
та інші, всього 23 особи.

40 Дифракційна характеризація мікродефектної структури ізохронно відпалених кристалів кремнію Металлофиз. новейшие технол., 2009, 31, № 9, С. 1001-1019. В.Б.Молодкін,
В.П.Кладько,
Є.М Кисловський, Т.П.Владімірова, Є.В.Кочелаб,
Р.Ф.Середенко, М.В.Слободян,
О.В.Решетник.

41 Трансформации в микродефектной структуре монокристаллов Cz-Si после облучения высокоэнергетическими электронами по данным рентгеновской дифрактометрии Металлофиз. новейшие технол., 2010,32, № 8, С. 1049-1057. В.В. Довганюк,
В.Б. Молодкин,
В.П. Кладько,
Е.Н. Кисловский,
Т.В.Литвинчук,
С.И. Олиховский,
И.М. Фодчук.

42 Double- and triple crystal X-Ray diffractometry of microdefects in silicon Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2010, v.13, №4,p.353–356. V.B. Molodkin,
S. I. Olikhovskii,
Ye. M. Kyslovskyy та інші, всього 8 осіб

43 Пат. 89594 Україна, МПК (2009) G01N 23/20
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів Власник Ін-т металофізики НАНУ. – № a200814201; заявл. 10.12.2008; опубл. 10.02.2010, Бюл. № 3
Шпак А.П.,
Ковальчук М.В., Молодкін
та інші, всього 18 осіб

44

Динамічна дифрактометрія структурних дефектів і деформацій в ґранатовій плівковій системі Y₃Fe₅O₁₂/Gd₃Ga₅O₁₂.

Металлофиз. новейшие технол.,2011,.33, №9, С.1145–1166.

С.Й.Оліховський, Т.П.Владімірова,О.С.Скакунова, В.Б.Молодкін, Б.К.Остафійчук, Є.М.Кисловський, О.В.Решетник, С.В.Лізунова

45 Рентґенівська динамічна дифрактометрія дефектної структури монокристалів ґранатів Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2011, 2, № 2, С. 375-408.
В.М.Пилипів, Б.К.Остафійчук, Т.П.Владімірова, Є.М.Кисловський, В.Б.Молодкін,
С.Й.Оліховський, О.В.Решетник, О.С.Скакунова,
С.В.Лизунова.

46
Динамічна дифрактометрія структурних дефектів у монокристалі гранату Nd₃Ga₅O₁₂.

Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2011, 9, № 3, С. 505-521.

Т.П.Владімірова,
В.М.Пилипів,
Б.К.Остафійчук,
Є.М.Кисловський
та інші, всього 9 осіб

47 X-ray diffraction characterization of microdefects in silicon crystals after high-energy electron irradiation Phys.stat.sol.(a), 2011, vol.208,No.11. р.2552-2557.
V.B. Molodkin,
S.I. Olikhovskii,
E.G.Len,
B.V.Sheludchenko,
S.V.Lizunova,
Ye.M.Kyslovs’kyy,
T.P. Vladimirova,
E.V. Kochelab.

48 Dynamical X-ray diffractometry of the defect structure of garnet crystals Phys.stat.sol.(a), 2011, vol.208,No.11. р.2558-2562.
V.M.Pylypiv
T.P. Vladimirova
I.M.Fodchuk
та інші, всього 11 осіб

49 Перетворення мікродефектної структури кристалів кремнію під впливом слабкого магнітного поля Металлофиз. новейшие технол.,2012, 34, №6. С. 799-814. Т.П. Владімірова,
М.О. Васильєв,
Є.М. Кисловський,
В.Б. Молодкін,
С.Й. Оліховський,
Є.В. Кочелаб,
О.В. Коплак,

50 Основи динамічної дифрактометрії неоднорідно розподілених макродеформацій та мікродефектів в імплантованих гранатових багатошарових кристалічних системах Металлофиз. новейшие технол.,2012, 34, №10, С. 1325-1336. О.С. Скакунова,
В.М. Пилипів,
С.Й. Оліховський,
Т.П. Владімірова,
Б.К. Остафійчук,
В.Б. Молодкін,
Є.М. Кисловський,
О.В. Решетник,
О.З. Гарпуль,
А.В. Кравець,
В.Л. Маківська,

51

Динамічна дифрактометрія структурних дефектів і деформацій в іонно-імплантованій ґранатовій системі Y₃Fe₅O₁₂/Gd₃Ga₅O₁₂/Y₃Fe₅O₁₂

Металлофиз. новейшие технол.,2012, 34, №11, С. 1451-1463.

В.М. Пилипів,
О.С. Скакунова,
Т.П. Владімірова,
Є.М. Кисловський,
Б.К. Остафійчук,
В.Б. Молодкін,
С.Й. Оліховський,
О.В. Решетник,
О.З. Гарпуль, В.Л. Маківська

52 Основы динамической высокоразрешающей дифрактометрии функциональных материалов Федеральное государственное бюджетное образовательное Учреждение высшего профессионального образования «Кабардино-балкарский государственный университет им. Х. М. Бербекова. Нальчик, Кабардино-балкарский университет, 2013, 130 c.
В.Б. Молодкин,
М.В. Ковальчук,
И.М. Карнаухов
та інші всього 21 особа.

53 Основы интегральной многопараметрической диффузнодинамической дифрактометрии
Федеральное государственное бюджетное образовательное Учреждение высшего профессионального образования «Кабардино-балкарский государственный университет им. Х. М. Бербекова. Нальчик, Кабардино-балкарский университет, 2013, 121 c.
В.Б. Молодкин,
М.В. Ковальчук,
И.М. Карнаухов
та інші всього 16 осіб.

54 Комбинированная многопараметрическая рентгенодифракционная диагностика микродефектов в кристаллах кремния после облучения высокоэнергетическими электронами Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2013, № 6, с. 25–33.
Е.Н. Кисловский,
В. Б. Молодкин,
С.И. Олиховский
та інші, всього 12 осіб

55 Теоретическаятрехосеваямодельдинамическогорассеяния иформированияизображенийнекристаллическихобъектов Металлофиз. новейшие технол., 2014, T.36, № 4,С. 561–575.
Б.В.Шелудченко,
В. Б. Молодкин,
С.В.Лизунова,
С.И. Олиховский,
Е.Н. Кисловский
та інші, всього 16 осіб

56

Теоретическая трехосевая модель динамического рассеяния и формирования изображений новообразований произвольной формы на ранних стадиях

Актуальные вопросы современного естествознания, 2014, вып.12, сс. 32-49.

Б.В. Шелудченко
В.Б. Молодкин
С.В. Лизунова
М.В. Ковальчук
Э.Х. Мухамеджанов
В.А. Бушуев
Ю.П. Хапачев
В.Е. Сторижко
С.И. Олиховский
Е.Н. Кисловский
А.Ю. Гаевский
В.В. Лизунов
А.И. Низкова
Т.П. Владимирова
В.В. Молодкин
Е.В. Фузик
А.В. Гошкодеря
Я.В.Василик
А.А. Белоцкая
Г.О. Велиховский
А.А. Музыченко
Р.В. Лехняк

57

Неразрушающая селективная по глубине диагностика изделий нанотехнологий

Наноразмерные системы и наноматериалы: исследования в Украине: Киев, Академпериодика, 2014, с.260-265.

В.Б. Молодкин
А.Ю.Гаевский
С.И. Олиховский
Е.Н. Кисловский
Т.П. Владимирова
А.А. Белоцкая
Я.В.Василик
Е.С. Скакунова
В.В. Лизунов
С.В. Лизунова
О.В. Решетник
И.Н. Заболотный
А.А. Катасонов
И.Э. Голентус
О.П. Васькевич