Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

V. B. Molodkin, A. I. Nizkova, E. I. Bogdanov, S. V. Dmitriev, V. V. Lizunov, E. S. Skakunova, N. G. Tolmachev, Y. V. Vasylyk, A. G. Karpov, O. G. Voitok, V. P. Pochekuev
«Creation of the Integrated Dynamical Diffractometry Basics for Micro- and Nanoinhomogeneities of Crystal Structure with Defects and Disturbed Surface Layer»
0261–0275 (2017)

PACS numbers: 61.05.C-, 61.72.Dd, 61.72.J-, 62.82.Fk, 68.35.Ct, 81.07.-b, 85.40.-e

Разработан и реализован практически на основе использования обнаруженных эффектов асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции подход для неразрушающей диагностики профиля неоднородного распределения микродефектов в монокристаллах. В частности, впервые получен профиль распределения микродефектов (преципитатов и дислокационных петель без ограничений на их размеры) по глубине динамически рассеивающего слоя монокристалла, а также показана принципиальная возможность и фактически определена кинетика изменения его сложной структуры после обработки высокоэнергетическими электронами.