Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

O. M. Bordun, I. O. Bordun, I. J. Kukharskyy, V. V. Ptashnyk, Zh. Ia. Tsapovska, and D. S. Leonov
«Structure and Vibrational Spectra of Thin Films Y2O3:Eu»
0027–0036 (2017)

PACS numbers: 42.30.-d, 63.22.dc, 68.37.Ps, 78.20.Ci, 78.30.-j, 78.60.Hk, 81.15.-z

Исследована структура поверхности тонких плёнок Y2O3:Eu, полученных методом ВЧ-ионно-плазменного напыления, при изменении концентрации активатора в пределах 1,0–7,5 мол.%. Измерены спектры ИК-отражения полученных систем тонкая плёнка Y2O3:Eu–подложка из плавленого кварца ?-SiO2 в спектральной области 400–1600 см–1 при T???295 К. Проведена интерпретация полос, связанных с колебательными процессами в плёнках Y2O3:Eu. Установлено, что полосы ИК-отражения с максимумами в области 1218 и 1253 см–1 являются довольно чувствительными к изменению концентрации активатора Eu3?, размеру кристаллитов, которые формируют плёнку, и структурному совершенству полученных плёнок.