Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

М. А. Цысарь
«Исследование стекла системы Ag2O–B2O3 методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём»
0343–0349 (2012)

PACS numbers: 07.79.Cz, 68.35.Ct, 68.37.Ef, 81.40.Pq, 81.65.Ps, 81.30.Tx

Представлены исследования стекла системы Ag2O–B2O3. Было установлено, что можно использовать сканирующий туннельный микроскоп для исследования качества обработки поверхности. Также был рассмотрен случай перепада высот при переходе от материала стекла к материалу вставки Ni.