Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

Д. В. Кузенко, В. М. Ищук, А. И. Бажин*, Н. А. Спиридонов, В. В. Дорофеева
«Долговременная релаксация в пьезоэлектрической керамике ЦТС, обусловленная дефектами кристаллической решётки нанометрового масштаба»
0313–0319 (2012)

PACS numbers: 61.72.jn, 77.22.Ch, 77.22.Gm, 77.84.Dy, 81.05.Je, 81.40.Tv

Представлены результаты изучения долговременной релаксации в пьезоэлектрической керамике Pb(Zr,Ti)O3 после прекращения возбуждения (электрическим полем, нагревом, механическим сжатием). В процессе старения происходит уменьшение диэлектрической проницаемости по логарифмическому закону. Подобное поведение связывается с релаксацией электрического заряда, выделившегося при частичной деполяризации керамики и локализовавшегося на дефектах решётки нанометрового масштаба.