Выпуски

 / 

2009

 / 

том 7 / 

выпуск 3

 



Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

O. Yu. Semchuk, D. L. Vodopianov, and L. Yu. Kunitska O. O. Chuiko
«Features of Light Scattering by Surface Fractal Structures »
0793–0801 (2009)

PACS numbers: 05.45.Df, 41.20.Jb, 42.25.-p, 61.43.Hv, 68.35.Ct, 78.68.+m, 81.70.Fy

В рамках метода Кирхгофа рассчитан средний коэффициент рассеяния света поверхностными фрактальными структурами. Для моделирования рассеивающей поверхности использовалась двумерная, ограниченная полосой функция Вейерштрасса. Произведены численные расчеты среднего коэффициента рассеяния и построены индикатрисы рассеяния для различных поверхностей и углов падения. Анализ индикатрис рассеяния приводит к следующим заключениям: рассеяние является симметричным относительно плоскости падения; с увеличением степени калибровки поверхности картина рассеяния усложняется; наибольшая интенсивность рассеянной волны наблюдается в зеркальном направлении и, кроме того, существуют другие направления, в которых наблюдаются всплески интенсивности.

©2003—2019 НАНОСИСТЕМЫ, НАНОМАТЕРИАЛЫ, НАНОТЕХНОЛОГИИ Институт металлофизики им. Г.В. Курдюмова Национальной Академии наук Украины.
Электронная почта: tatar@imp.kiev.ua Телефоны и адрес редакции О сборнике Пользовательское соглашение