Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

Р. І. Бігун, М. Д. Бучковська, В. М. Гаврилюх, Я. А. Пастирський, З. В. Стасюк
«Квантовий розмірний ефект в електропровідності плівок міді, нанесених на поверхню підшарів кремнію та сурми»
075–084 (2015)

PACS numbers: 72.10.Fk, 73.23.-b, 73.25.+i, 73.40.-c, 73.50.Bk, 73.61.At, 85.40.Xx

Conductivity–thickness dependences of quench-condensed copper films under ultrahigh-vacuum conditions are quantitatively described within the scope of the quantum-size effect modern theories for metal films. Copper films deposited on antimony or silicon underlayers form metal samples with smaller surface inhomogeneities. As shown, the experimental data have the best agreement with the theoretical calculations, which take into account the peculiarities of real metal-film surface morphology.