Скачать полную версию статьи (в PDF формате)

В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко
«Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности»
0081–0090 (2014)

PACS numbers: 07.35.+k, 07.79.-Cz, 68.37.Ef, 73.40.Gk, 73.63.Rt, 81.05.uj, 81.07.Lk

Наведено нову методику дослідження атомарної структури поверхні на основі методів сканівної тунельної мікроскопії (СТМ) і сканівної тунельної спектроскопії (СТС) з діамантовим зондом. В основу методики покладено ідею порівняння СТМ-зображення досліджуваної ділянки поверхні з її СТС-зображенням, одержаним за малих тунельних напруг. Наведена методика може використовуватися при нанотехнологічних операціях атомарного складання логічних елементів квантових комп’ютерів, елементів наноелектроніки, при створенні й вивченні однофотонних джерел тощо.